ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3—2011
Содержание
1 Область применения.........................................................................................................................................1
2 Нормативные ссылки.........................................................................................................................................1
3 Термины и определения...................................................................................................................................2
4 Общие понятия, относящиеся к методам испытаний.................................................................................2
4.1 Внешние условия при испытаниях..........................................................................................................2
4.2 Предварительное кондиционирование................................................................................................ 2
4.3 Выбор метода испытаний......................................................................................................................... 2
4.4 Допускаемые отклонения......................................................................................................................... 2
4.5 Суммарная погрешность измерения.....................................................................................................2
4.6 Соглашения по электрическим измерениям.......................................................................................3
4.7 Оборудование............................................................................................................................................3
4.7.1 Оборудование для испытаний карт на интегральных схемах с контактами
(испытательное оборудование).............................................................................................................3
4.7.2 Оборудование для испытаний устройства сопряжения (испытательное оборудование
для IFD )......................................................................................................................................................6
4.7.3 Сценарий испытаний................................................................................................................... 10
4.8 Взаимосвязь методов испытаний с требованиями базовых стандартов.....................................10
5 Методы испытаний электрических характеристик карт с контактами.....................................................12
5.1 Контакт V C C ............................................................................................................................................ 12
5.1.1 Оборудование................................................................................................................................12
5.1.2 Методика..................................................................12
5.1.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 13
5.2 Контакт I/O ................................................................................................................................................13
5.2.1 Оборудование................................................................................................................................13
5.2.2 Методика.........................................................................................................................................13
5.2.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 14
5.3 Контакт C L K ............................................................................................................................................ 14
5.3.1 Оборудование................................................................................................................................14
5.3.2 Методика.........................................................................................................................................14
5.3.3 Отчет об испытаниях ....................................................................................................................15
5.4 Контакт R S T ............................................................................................................................................ 15
5.4.1 Оборудование...............................................................................................................................15
5.4.2 Методика.........................................................................................................................................15
5.4.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 16
5.5 Контакт SPU (С6)......................................................................................................................................16
6 Методы испытаний логических операций карт с контактами.................................................................... 16
6.1 Ответ-на-Восстановление...................................................................................................................... 16
6.1.1 «Холодное» восстановление и Ответ-на-Восстановление (ATR)........................................16
6.1.2 «Теплое» восстановление..........................................................................................................16
6.2 Протокол Т = 0 .........................................................................................................................................17
6.2.1 Синхронизация передачи I/Oдля протокола Т = 0 ...............................................................17
6.2.2 Повторение знака I/O для протокола Т = 0 ..............................................................................17
6.2.3 Синхронизация приема I/O и сигнализация об ошибке для протокола Т = 0 ...................17
6.3 Протокол Т = 1 ......................................................................................................................................... 18
6.3.1 Синхронизация передачи I/Oдля протокола Т = 1 ...............................................................18
6.3.2 Синхронизация приема I/O для протокола Т = 1 .................................................................... 19
6.3.3 Характер изменения времени ожидания знака {CWT) карты ...............................................19
6.3.4 Реакция карты на превышение IFD времени ожидания знака (CWT)................................20
6.3.5 Разграничительный интервал блока (BGT)..............................................................................20
6.3.6 Упорядочение блоков в карте................................................................................................... 21
6.3.7 Реакция карты на ошибки протокола.......................................................................................22
6.3.8 Устранение ошибок передачи в карте.......................................................................................22
6.3.9 Ресинхронизация.........................................................................................................................23
ill