Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 52633.4-2011; Страница 44

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 54087-2010 Интегрированная логистическая поддержка. Контроль качества и приемка электронных интерактивных эксплуатационных и ремонтных документов. Основные положения и общие требования Integrated logistic support. Quality assurance and approval of electronic interactive maintenance and repair documents. Basic principles and general requirements (Настоящий стандарт устанавливает основные положения и общие требования к контролю качества и приемке интерактивной электронной эксплуатационной и ремонтной документации, разрабатываемой для обеспечения интегрированной логистической поддержки промышленных изделий в рамках информационной поддержки их жизненного цикла. Настоящий документ предназначен для применения при разработке новых образцов изделий, а также при совершенствовании процессов технической эксплуатации уже используемых изделий, при поставках изделий отечественным государственным и иностранным заказчикам) ГОСТ Р МЭК 61347-2-13-2011 Устройства управления лампами. Часть 2-13. Частные требования к электронным устройствам управления, питаемым от источников постоянного или переменного тока, для светодиодных модулей Lamp controlgear. Part 2-13. Particular requirements for d.c. or a.c. supplied electronic controlgear for light emitting diode modules (Настоящий стандарт устанавливает частные требования безопасности к электронным устройствам управления для светодиодных модулей, питаемым от источников постоянного тока напряжением до 250 В и переменного тока напряжением до 1000 В частотой 50 или 60 Гц, создающим напряжение с частотой, отличающейся от частоты сети. Устройства управления для светодиодных модулей, установленные в настоящем стандарте, позволяют обеспечивать постоянное напряжение или постоянный ток при безопасных сверхнизких напряжениях или напряжениях, эквивалентных безопасным сверхнизким напряжениям, или более высоких. Стандарт распространяется и на устройства управления, питаемые от источников с напряжением и током, отличающимися от стандартных, в частности с широтно-импульсным модулятором) ГОСТ Р 7.0.11-2011 Система стандартов по информации, библиотечному и издательскому делу. Диссертация и автореферат диссертации. Структура и правила оформления System of standards on information, librarianship and publishing. Dissertation and dissertation abstract. Structure and rules of presentation (Настоящий стандарт устанавливает общие требования к оформлению кандидатских и докторских диссертаций и авторефератов диссертаций по всем отраслям знаний. Настоящий стандарт распространяется на диссертации, представленные в виде рукописи или в виде научного доклада. Настоящий стандарт не распространяется на диссертации в виде изданной монографии. Настоящий стандарт предназначен для лиц, работающих над диссертациями, а также для применения органами научно-технической информации, библиотеками, издательствами и издающими организациями)
Страница 44
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 52633.42011
Окончание таблицы В.2
Значение попей
матрицы ВБПЗначение полей метаописания матрицы 8БЛ (nbMcla)
Значение типа ограничения InbConstraintTypc)
(nbMatrix)
nrowsncols
countformat
type
nbCT_SlGMAf1
Слот*Слот*
Слот*
nbCTJNTERVAL11
Слот*Слот*
Слот*
nbCT_DISPLACEMENT11
Слот*Слот*
Слот*
nbCT_DISCRETE_STEP11
Слот*Слот*
nbMT_DISCRETE_OWN
nbCT_RANGE_LIMlT11
Слот*Слот*
Слот*
nbC T_OWN_LAW11
Слот*nbMFJ32
nbMT_DISCRETE_OWN
nbCT_ALL_LAW11
Слот*nbMF_l32
nbMT_DISCRETE_OWN
nbCT_ALGORITHM11
1nbMF_I32
nbMT_DISCRETE_OWN
nbCT_SALT11
ЛюбоеnbMF_l1
nbMT_DISCRETE_OWN
nbCT_ERROR_DETECTlON_RATE11
1nbMF_l32
nbMT_DISCRETE_OWN
nbCT_ERROR_CORRECTION_RATE11
1nbMF_l32
nbMT_DISCRETE_OWN
nbCT_CRYPTO_STRENGTH_REDUCTION11
1nbMF_l32
nbMT_DISCRETE_OWN
nbCT_CONN_ID1Любое
ЛюбоеnbMF_!1
nbMT_DISCRETE_OWN
* Значение, равное значению поля «Метаописание» соответствующего спота.
•* Значение, равное числу примеров входных биометрических параметров.
*** Значение, достаточное для выполнения обучения НПБК или дообучения ЭП.
Формат представления результатов тестирования приведен в таблице В.З.
Т а б л и ц а В.З — Формат представления результатов тестирования
Значение режима тестирования (nbTestMobe)
Значение
полей
матрицы ВБП
(nbMatrix)
Значение полей метаописания матрицы ВБП (nbMcta)
ПГО\У5
ncols count
format
type
nbTEST_MODE_E1_BIO
1
11
nbMF_!32. nbMF_R32*
nbMT_DISCRETE_OWN
nbTEST_MODE_E2_BIO
1
11
nbMF_I32. nbMF_R32*
nbMT_DISCRETE_OWN
nbTEST MODE E2 BIO
1
_HUMAN_COMPROMISED
11
nbMF_l32. nbMF_R32*
nbMT_DISCRETE_OWN
nbTEST MODE E2 BIO
1
„COMPROMISED
11
nbMFJ32. nbMF_R32*
nbMT_DISCRETE_OWN
nbTEST_MODE_E2_COD£
1
11
nbMF_l32. nbMF_R32*
nbMT_DISCRETE_OWN
nbTEST_MODE_E2_BIO_WHITE_NOISE
1
11
nbMF_I32. nbMF_R32*
nbMT_DISCRETE_OWN
nbTEST_MODE_E2_BIO_CORR_NOISE
1
11
nbMF_l32. nbMF_R32*
nbMT_DISCRETE_OWN
nbTEST_MODE_E2_CONV
1
11
nbMFJ32. nbMF_R32*
nbMT_DISCRETE_OWN
• Допускается поддержка нескольких вариантов.
40