ГОСТ Р 52633.4—2011
ЭП со значениями из диапазона [1...127], а младшие 7 бит его номеру в схеме преобразования из диа
пазона [1...1271-
8.2.13.4 Значения типа слота
#definenbSLOT_TYPE_IN(0)
Слот параметра, содержащий входной параметр.
#definenbSLOT_TYPE_SPEC_IN(1)
Слот параметра, содержащий специальный входной параметр.
#defmenbSLOT_TYPE_SPEC_OUT(2)
Слот параметра, содержащий специальный выходной параметр.
#definenbSLOT_TYPE_CONV(3)
Слот ЭП. содержащий выходной параметр.
8.2.13.5 Макросы формирования номера слота
#define nbSLOT_OUT(nbSlotlD)(0x0000)
Задает номер слота выходного кода НПБК.
#define nbSLOTJN(i)(nbSlotlD)(0x3FFF&i)
Задает номер слота входного параметра с индексом i. Значение iдолжно принадлежать множест
ву [0x0001...0X3FFF],
#defme nbSLOT_SPEC_IN(i)(nbSlotlD}(0x4000|(0x3FFF&i))
Задает номер слота специального входного параметра с индексом i. Значение индекса должно
принадлежать множеству [0x0001.,.0x3FFF],
#define nbSLOT_SPEC_OUT(о)(nbSlotlDX0x8000|(0x3FFF&o))
Задает номер слота специального выходного параметра с и(дексом. Значение индекса из мно
жества [0x0001...0x3FFF],
#define nbSLOT_CONV (bt.i)(nbStotlD)(0xC000|(0x3F80&(bt«7))|(0x007F&i))
Задает номер слота ЭП с индексом i и типом Ы. Значение индекса должно принадлежать множес
тву [1...127]. Значение типа ЭП должно принадлежать множеству [1...127].
8.2.13.6 Используется для идентификации параметров нейросетового преобразования и эле
ментарных преобразователей в схеме преобразования, а также во время импорта/экспорта НБК.
8.2.14 Тип nbTestMode
8.2.14.1 Определяет режим тестирования НПБК.
8.2.14.2 Объявление
typedef uint16_tnbTestMode;
8.2.14.3 Значения
#define nbTEST_MODE_E1_BIO(1)
Оценка вероятности ошибки первого рода (отказ по примеру образа «Свой»),
#define nbTEST_MODE_E2_BIO(2)
Оценка вероятности ошибки второго рода (пропуск по примеру образа «Чужой»),
#define nbTEST_MODE_E2_BIO_HUMAN.COMPROMISED (3)
Оценка вероятности ошибки второго рода при скомпрометированном биометрическом образе
(известна косвенная информация о правилах его построения).
#defme nbTEST_MODE_E2_BIO_COMPROMISED(4)
Оценка вероятности ошибки второго рода при скомпрометированном биометрическом образе
(известен одиночный пример биометрического образа «Свой»),
#define nbTEST_MODE_E2_CODE(5)
Оценка эффективной длины ключа в битах.
#define nbTEST_MODE_E2_BIO_WHITE_NOISE(6)
Оценка вероятности ошибки второго рода при подборе биометрического образа с помощью атаки
белым шумом.
#def.ne nbTEST_MODE_E2_BIO_CORR_NOISE(7)
Оценка вероятности ошибки второго рода при подборе биометрического образа с помощью атаки
коррелированным шумом, учитывающим особенности распределения биометрических образов «Все
чужие».
#define nbTEST_MODE_E2_CONV(8)
Оценка вероятности ошибки при атаке подбора с известным НБК.
8.2.14.4 Используется во время тестирования НПБК.
8.2.15 Тип nbTime
8.2.15.1Определяет дату и время. Хранит число секунд, прошедших с 00:00:00 1 января 1970.
Отрицательное значение задает дату и время до 1 января 1970.
18