ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-1—2010
0.25 гак
i Б*тжх
025 гшк
VK ИД*ОГО(1М*ЖМК
Рисунок 14а — Правильное расположение ИК ИД и фотоприемника (уточнение)
d)цепьдля управления источником излучения, включающая в себя средства для измерения тока,
протекающего через фотоприемник, в соответствии с рисунком 15.
ИКОДмаистср
^ЛАА/V
j
1
* 3 Р (гахгвяюй rafl
\\
Иыейпат» тока
Эваемлемю
Рисунок 15 — Схема электрической цепи для испытания на непрозрачность для каждой длины волны
П р и м е ч а н и е — Резистор выбирают таким образом, чтобы прямой ток(/F) ИК ИД не превышал 90 % мак
симально допустимого значения, указанного изготовителем. Рекомендуется, чтобы ток фотоприемника находился в
пределах от 5 до 15 мА при отсутствии преграды между ИК ИД и фотоприемником.
5.10.2.2 Порядок проведения испытания
Если для сканирования карты применяется механизированное оборудование, расстояние между
отдельными позициями измерениядолжно быть меньше или равно половине диаметра отверстия в ма
териале, ограничивающем ИК-излучение. В случае непрерывного сканирования скорость должна быть
менее 0.05 диаметра отверстия, разделенного на время реакции системы ИД/фотоприемник.
5.10.2.2.1 Градуировка
Эталонный материал ORM7810, указанный в основном стандарте, располагают между ИД и фо
топриемником как можно ближе к фотоприемнику. Регистрируют значение тока через фотоприемник /№Г
Перемещают эталонный материал между ИД и фотоприемником для получения минимального тока.
После градуировки эталонный материал удаляют.
П р и м е ч а н и е — Эталонный материал ORM7810 можно получить по адресу: Eclipse Laboratories. 7732
West 78ft Street. Bloomington. MN55439 USA <
www.eclipselaDoratones.com
>.
5.10.2.2.2 Измерение
Перед испытанием карту кондиционируют по 4.2. Испытание проводят в нормальных климатичес
ких условиях, указанных в 4.1.
Испытуемую карту располагают между ИД и фотоприемником как можно ближе к фотоприомнику.
В пределах зон карты, указанных в основном стандарте, регистрируют максимальное значение тока че
резфотоприемник 7сап3.Перемещают карту между ИД и фотоприемником для получения максимального
тока.
Определяют и регистрируют отношение непрозрачностидля каждой длины волны ИД.
5.10.2.3 Правила оформления результатов испытания
В протоколе испытаний должны быть указаны зарегистрированные значения отношения мини
мальной непрозрачности для каждой длины волны ИД и места на карте, где они находятся.
5.11 Ультрафиолетовое излучение
Целью данного испытания является определение негативных последствий, вызванных воздей
ствием на испытуемую карту ультрафиолетового излучения.
5.11.1 Порядок проведения испытания
Перед испытанием карту кондиционируют по 4.2. Испытание проводят в нормальных климатичес
ких условиях, указанных в 4.1.
14