ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-1—2010
В пределах зон карты, установленных в основном стандарте, находят и регистрируют значение мини
мальной непрозрачности в диапазонедлин волн400—1000 нм. Измерения проводят синтервалами 20 нм.
П р и м е ч а н и е — Число измерений, необходимое для нахождения минимальной непрозрачности, умень
шится. если соответствующее место на карте установлено заранее.
5.10.1.3 Правила оформления результатов испытания
В протоколе испытанийдолжны быть указаны зарегистрированное значение минимальной непроз
рачности. диапазон длин волн и место на карте с минимальной непрозрачностью.
5.10.2Непрозрачность (для соответствия изданиям ИСО/МЭК 7810, вышедшим после
ИСО/МЭК 7810:2003)
Цельюданного испытания является определение непрозрачности карты в зонах, установленных в
основном стандарте, на двух различных длинах волн инфракрасного излучения (ИК-излучсния). пред
ставляющих собой области спектра, наиболее часто используемые в приложениях, в которых наличие
карты обнаруживается по вызываемому ею ослаблению света, пропускаемого между его источником и
приемником31.
П р и м е ч а н и е — На момент публикации настоящего стандарта самыми применяемыми источниками
ИК-излучения являются излучающие диоды (ИД) на основе арсенида галлия (GaAs) либо на основе арсенида гал
лия в комбинации с арсенидом алюминия (GaAlAs). которые генерируют ИК-излучение с длиной волны в точке
мак симума спектрального распределения номинально 950 и 860 нм соответственно.
5.10.2.1 Средства испытания
В процессе испытания используют следующие средства:
а) инфракрасные ИД (ИК ИД) и фотоприемники со следующими характеристиками:
Длины волн
БлижняяДальняя
ИК областьИК область
спектраспектра
- мощность излучения ИД. мВт, не менее5 5
- длина волны ИД в точке максимума спектрального
распределения, нм860 ±10950 ±10
- ширина спектральной полосы ИД. соответствующая
50 %-ному уровню спада интенсивности излучения, нм. не более5050
- номинальная длина волны фотоприемника, соответствую
щая максимуму спектральной чувствительности, нм900900
b
) материал для ограничения ИК-излучения, имеющий отверстие как для ИД, так и для фотопри
емника в соответствии с рисунком 14.
c) монтажное приспособление, обеспечивающее расположение ИК ИД и фотоприемника на одной
оси сдопускаемыми отклонениями в пределах ± 0,25 мм иуглом конусности не более 5* в соответствии с
рисунком 14а. а также их защиту от окружающего света;
Рисунок 14 — Правильное расположение ИК ИД и фотоприемника
51 Методы обнаружения наличия карты, в которых используется свет с длинами волн, значительно отличаю
щимися от применяемых в данном методе испытаний, могут не подходить для работы с картами, основанными на
требовании к непрозрачности, установленном в изданиях ИСО/МЭК 7810, вышедших позднее 2003 г.
13