ГОСТ Р МЭК 60122-1—2009
МЭК 60068-2-20:1979 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2.
Испытание Т. Пайка
МЭК 60068-2-21:199911 Основные методы испытаний навоздействие внешних факторов. Часть 2.
Испытание U. Прочность выводов иих крепление к корпусу изделия
МЭК 60068-2-27:1987 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2.
Испытание Еа. Удар
МЭК 60068-2-29:1987 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2.
Испытание ЕЬ. Многократные удары
МЭК 60068-2-30:19802’ Основные методы испытаний навоздействие внешних факторов. Часть 2.
Испытание Db. Влажное тепло, циклический режим (12 ч+ 12 ч)
МЭК 60068-2-32:1975 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2.
Испытание Ed. Свободное падение (метод 1)
МЭК 60068-2-45:1980 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2.
ИспытаниеХА. Погружение вочищающие растворители
МЭК 60122-3:2001 Кварцевые резонаторы оценочного качества. Часть 3. Стандартизованные
габаритныеразмеры и штыревые соединения
МЭК 60444-1:1986 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в
л-образной схеме. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и сопротивления кварце
выхрезонаторов методом с нулевой фазой и в л-образной схеме
МЭК 60444-2:1980 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в
л-образной схеме. Часть 2. Измерение динамической емкости кварцевых резонаторов методом сдвига
фазы
МЭК 60444-4:1988 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в
л-образной схеме.Часть4. Метод измерения резонансной частоты под нагрузкой fL,резонансногосопро
тивления под нагрузкой RL и расчет других производных величин кварцевых резонаторов до 30 МГц
включительно
МЭК 60444-5:1995 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в
л-образной схеме. Часть 5. Методы определения эквивалентных электрических параметров с использо
ванием автоматических схемных анализаторов и коррекции погрешностей
МЭК 60444-6:1995 Измерение параметров кварцевых резонаторов методом с нулевой фазой в
л-образной схеме. Часть 6. Измерение зависимости уровня возбуждения (DLD)
МЭК 60617 (все части) Обозначения условные графическиедля схем
МЭК 61178-2:1993 Резонаторы кварцевые. Технические условия вСистемесертификации элект
ронных компонентов МЭК (IECQ). Часть 2. Групповые ТУ. Утверждение технических возможностей
МЭК 61178-3:1993 Резонаторы кварцевые. Технические условия вСистеме сертификации элект
ронных компонентов МЭК (IECO). Часть 3. Групповые ТУ. Утверждение соответствия
МЭК QC 001001:2000 Система сертификации электронных компонентов МЭК (IECQ). Основные
правила
МЭК QC 001002-2:1998 Система сертификации электронных компонентов МЭК (IECQ). Часть 2.
Документация
МЭК QC 001002-3:1998 Система сертификации электронных компонентов МЭК (IECQ). Часть 3.
Процедуры утверждения
МЭК QC 001005:2000 Перечень фирм, изделий и услуг, аттестованных в Системе с учетом
ИСО 9000
ИСО 1000:1992 Единицы Системы СИ и рекомендации по применению кратных им и некоторых
другихединиц
1.3 Порядок предпочтительности
При нескольких видах документов следующий порядок предпочтительности:
- технические условия (ТУ) на компоненты конкретных типов;
- групповые ТУ;
- общие ТУ;
- любые другие международныедокументы (например. МЭК). на которые приведена ссылка.
2
11
Заменен на МЭК 60068-2-21.2006.
2) Заменен на МЭК 60068-2-30.2005.