ГОСТ Р 53195.3—2009
Окончание таблицы А.5
Метод/средство
диагностики
Максимально достижимыйПримечание
рассматриваемый уровень охвата
диагностикой
Сигнатура из двух слов
(16 бит)
Высокий
Эффективность сипчатуры зависит от ее
длины по отношению к длине блока защища
емой информации
Дублирование блока—
П р и м е ч а н и я
1 Данные требования не заменяют ни одного из требований, приведенных в приложении Б.
2 Требования, приведенные в приложении Б. могут быть применены для определения уровня охвата
диагностикой.
Т а б л и ц а А.6 — Уровень охвата диагностикой переменных областей памяти в зависимости от применяемых
методов’’средст8 диагностики
Метод/средство
диагностики
Максимально достижимый рассматриваемый
уровень охвата диагностикой
Тест ОЗУ «шахматная доска» или «марш»
Низкий
Тест ОЗУ «блуждающая траектория»
Средний
Тест ОЗУ «GALPAT» — попарная запись — считы
вание с использованием бегущего кода или «Прозрач
ный GALPAT »
Высокий
Тест ОЗУ «Авраам»
Бит четности для ОЗУ
Низкий
Контроль ОЗУ с использованием модифицированно
го кода Хэмминга или обнаружение сбоев данных с ис
пользованием кодов обнаружения и коррекции ошибок
Высокий
Дублированное ОЗУ с аппаратным или программ
ным сравнением и контролем считывания/записи
П р и м е ч а н и я
1Данные требования не заменяют ни одного из требований, приведенных в приложении Б.
2 Требования, приведенные в приложении Б. могут быть применены для определения уровня охвата
диагностикой.
Таблица А.7 — Уровень охвата диагностикой устройства входа/выхода и интерфейсов (внешняя связь) в
зависимости от применяемых методов/средств диагностики
Метод/средство
диагностики
Максимально достижимый
рассматриваемый уровень охвата
диагностикой
Примечание
Тестирующая комбинация
Высокий
—
Обнаружение отказов путем
Низкий (режим с низкой час
мониторинга в режиме внешне
тотой запросов).
го управления
Средний (режим с высокой
частотой запросов или с непре
рывным запросом)
Зависит от охвата диагностикой для обна
ружения отказов
Кодовая защита
—
Многоканальный парал
Высокий
лельный выход
Только если поток данных изменяется во
время интервала тестовых проверок
30