ГОСТ Р 51318.16.1.4— 2008
5.8 Пригодность измерительных площадок без пластины заземления
В настоящем подразделе приведена процедура валидации измерительных площадок без пластины
заземления, предназначенныхдля проведения испытаний в полосе частот от 30 до 1000 МГц.
5.8.1 Измерения на измерительных площадках, обеспечивающих условия свободного про
странства, реализованные в экранированных помещениях, полностью облицованных погло
щающим материалом
Экранированное помещение, полностью покрытое поглощающим материалом (полностью безэховая
камера), может быть использованодля измерений излучаемых ИРП. Нормы излучаемых ИРП при исполь
зовании полностью безэхоеых камер должны бытьустановлены в соответствующих стандартах вобласти
ЭМС (общих стандартах, стандартах на группы ТС или ТС конкретного вида). Соответствие нормам ИРП при
измерениях в полностью безэхоеых камерах должно устанавливаться так же. как при измерениях на
открытой измерительной площадке.
Полностью безэховая камера предназначена для моделирования свободного пространства с тем,
чтобы на приемную измерительную антенну приходил только прямой луч от передающей антенны или от
испытуемого ТС. Все отраженные лучи должны минимизироваться за счет применения на всех стенах,
потолке и полу безэховой камеры соответствующего ВЧ поглощающего материала.
5.8.2 Пригодность измерительной площадки
Для определения пригодности измерительной площадки, обеспечивающей условия свободного про
странства, должна быть проведена валидация площадки. Валидацию безэхоеых камер проводят метода
ми. приведенными ниже. — методом опорной измерительной площадки и методом нормализованного зату
хания площадки.
5.8.2.1 Теоретическое нормализованное затухание площадки
Ниже приведены сведения о нормализованном затухании измерительных площадок, обеспечиваю
щих условия свободного пространства для бесконечно малых антенн.
Затухание площадки S/1 определяют как потери при передаче между разъемами двух антенн на
конкретной площадке. Для условий свободного пространства затухание площадки SA, дБ. можно аппрок
симировать уравнением
где AFr , AF
t
— градуировочные коэффициенты приемной и передающей антенн. дБУм;
d — расстояние между фазовыми центрами обеих антенн, м;
Zo — опорное полное сопротивление (50 Ом):
l
р = 2п I J;
fm — частота измерения. МГц.
П р и м е ч а н и е — На частотах ниже 110 МГц при измерении на расстоянии 3 м и на частотах ниже 60 МГц
при измерении на расстоянии 5 м имеют место эффекты ближнего поля. Их можно рассчитать для каждой
отдельной измерительной площадки.
Теоретическое нормализованное затухание площадки NSA.дБ. определяют как затухание площадки
за вычетом соответствующих коэффициентов калибровки антенн следующим образом:
SA=20tog,о|(т^)
Т Г ^Г Г
- 20log,о+
АРЙ+AFг,
(
8
)
V(Pdf (Pdf
A/S^cajc —20 log,о
(330
d
20 log, оfm.
О)
dp +
(pdf
На частотах ниже 60 МГц при измерительном расстоянии 5 м или на частотах ниже 110 МГц при
измерительном расстоянии 3 м при анализе каждого из испытательных объемов, указанных втаблице 3. и
сравнении нормализованного затухания площадки с теоретическим значением нормализованного затуха-
21