ГОСТ Р 50429.2—92 С. 6
мя экспозицирассто ниемеждуэ ектр дамип дд рживают
силой 15 А и фотографируют спектр с экспозицией 40 с. Во вре
равным 3 мм.
и
Спектры
я
в области длин
л
волн
о
200—300
о
нм
е
фотогра
фируют спектрографом типа ДФС-8 с решеткой 600 штр/мм, рабо
тающим в первом порядке, с промежуточной диафрагмой 5 мм, или
спектрографом средней дисперсии типа ИСП-28, с промежуточ
ной диафрагмой 5 мм. Ширина щели спектрографа в обоих слу
чаях 15 мкм. В кассету заряжают пластинку Типа ПФС-04 (при
определении цинка от 3-10-4 до 1•10- 2% спектр фотографируют на
фотопластинках типа ПФС-02).
Спектр каждой пробы и спектр каждого изобразцов сравне
ния регистрируют на фотопластинке по три раза. Кроме того, на
ту Же фотопластинку трижды фотографируют спектр основы об
разцов сравнения; для этого в канал графитового электрода диа
метром 4 мм и глубиной 6 мм каждый разпомещают 10 мг по
рошкового графита и 100 мг галлия, чистогопоопределяемым
примесям.
Экспонированную фотопластинку проявляют,промывают во
дой, фиксируют, промывают в проточной воде в течение 15 мин и
сушат.
5. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
5.1. В каждой
литической линии
спектрограммефотометрируют почернения ана
определяемого элемента5Л (см.табл. 3)и
Т а б л ица3
Определяемый элемент
Длина волны аналитичес
кой линии, нм
Примечания
32481
Свинец
283,31
—
213,86
Кадмий
Цинк
Цинк
328,23
Применяется
к
для массо
вой доли цин а от
3-10-4до М 0~2 %
близлежащего фона S ф (минимальное почернение рядом с анали
тической линией определяемого элемента с любой стороны, но с
одной и той же стороны во всех спектрах, снятых на одной плас
тинке) и вычисляют разность почернений А 5 = 5 Л—5ф.
По тре’м параллельным значениям ASi, AS2, AS3, полученным
27