Сур. 14 ГОСТ 10074—83
4.2.2. Для ограничения влияния помех допускается использо
вать:
экранирование испытательных помещений;
балансную схему;
осииллографическое отсчетное устройство;
фильтры нижних частот на стороне низкого напряжения для
подавления высокочастотных помех, поступающих в измеритель
ную схему из сети;
временную селекцию, если помехи имеют устойчивую во вре
мени фазу возникновения, отличную от фазы возникновения час
тичных разрядов;
отстройку по частоте, если помехи имеют определенную ста
бильную частоту (например, радиосигналы).
4.2.3. Допускается использование иных способов отстройки от
помех при условии соблюдения требований настоящего стандарта.
4.3. Ч у в с т в и т е л ь н о с т ь
4.3.1. Уровень собственных помех измерительного устройства
должен быть таким, чтобы обеспечивать чувствительность измере
ний, при которой минимальный регистрируемый заряд был бы ме нее
20% нормируемого значения кажущегося заряда частичных
разрядов.
4.3.2. Уровень помех, определяющий чувствительность измере
ний. при нормированном напряжении должен быть в два раза и
более ниже нормированной интенсивности частичных разрядов
для данного объекта испытаний.
S. ПОДГОТОВКА ОБЪЕКТА И ПРОЦЕДУРА ИСПЫТАНИЯИЗОЛЯЦИИ
С ИЗМЕРЕНИЕМХАРАКТЕРИСТИКЧАСТИЧНЫХРАЗРЯДОВ
5.1. Конкретные требования к каждому объекту, касающиеся
его подготовки, условий испытаний, измеряемых характеристик
частичных разрядов и приложения испытательного напряжения,
должны быть указаны в стандартах на оборудование конкретных
типов.
5.2. Изоляционная поверхность должна быть чистой и сухой.
В целях воспроизводимости результатов необходим интервал
«отдыха» между механическими, тепловыми и электрическими
воздействиями на испытуемый объект и испытаниями на частич
ные разряды.
5.3. При испытаниях с измерением частичных разрядов испы
тательное напряжение н скорость его изменения должны соответ
ствовать требованиям, установленным в стандартах на методы ис
пытаний электрооборудования конкретных типов. i
5.4. Для определения напряжения возникновения частичных
разрядов Ui к испытуемому объекту прикладывается напряжение
ниже предполагаемого напряжения возникновения частичных раз*
рядов. Затем напряжение постепенно увеличивается до тех пор.