Стр. 10 ГОСТ J0074—83
Рекомендуется применять экранирование всего градуировоч
ного устройства (генератора, градуировочного конденсатора ».
соединительных проводов).
Градуировочный конденсатор должен быть установлен непос
редственно вблизи вывода объекта.
3.2.2. Градуировкой измерителей кажущегося заряда н сред
него тока определяются соответствующие градуировочные (мас-
пггабные) коэффициенты Kt и К г , с помощью которых вычисля
ются при измерениях кажущийся заряд q и средний ток / час
тичных разрядов из формул
Н
Л
<3>
f= K i А, у (4>
где И^и А / — соответствующие показания отсчетных устройств.
Значения градуировочных коэффициентов зависят от парамет
ров всех элементов испытательной установки (объекта испытаний,
соединительного конденсатора, соединительных кабелей, измери
тельного элемента и измерительного прибора) и схемы их вклю
чения.
3.2.3. Градуировка должна проводиться для каждой испыта
тельной установки и для каждого объекта испытаний. Допускает ся
не проводить градуировку для каждого объекта испытаний при
серийных испытаниях идентичных объектов на одной установке,
если емкость объектов изменяется не более чем на 10%.
Рекомендуется проводить градуировку до испытания и после-
него, для одного или нескольких значений измеряемой характе
ристики.
Градуировка до испытаний имеет предварительный, оценоч
ный характер, выполняется при одном или нескольких положени ях
регулятора в наиболее вероятном, ожидаемом при испытани ях
диапазоне чувствительности (усиления).
Градуировку после испытаний рекомендуется выполнять при-
тех же положениях регулятора чувствительности (усиления), при
которых осуществлялись измерения. В этом случае устанайлнва-
ют такие же показания отсчетного устройства, какие были при
испытаниях.
3.2.4.Допускается проводить градуировку на одной частоте
следования градуировочных импульсов, лежащей в диапазоне от
10* до 10* с-К
3.3. Виды и схемы г р а д у и р о в о к
3.3.1. Нормируются следующие виды градуировок:
параллельная градуировка,
эквивалентная градуировка.
Допускается применение других видов градуировок и схем, ес
ли при этом погрешность измерения характеристик частичных
разрядов не превышает 10%.