ГОСТ 16143—2022
<4
5
А — тубус с осветителем; В — тубус с фотодиодом; 1— блок питания; 2 — светодиод; 3, 9 — линзы; 4 — головка блескомера;
5 — информационный дисплей; 6 — аналого-цифровой преобразователь; 7 — фотодиод; 8 — диафрагма; 10 — отверстие для
измерения отражения света; 11 — испытуемый образец; 12— поляризационная пластинка (анализатор)
5.2 Подготовка к испытаниям
5.2.1 Отбор образцов деталей и изделий, размеры их испытуемых поверхностей, количество и
подготовка перед испытанием должны соответствовать 4.1.2.1—4.1.2.4.
5.2.2 Блескомер настраивают следующим образом. На пластинку инфракрасного стекла ИКС6
устанавливают моноблок, в корпусе которого расположены тубус с осветителем, тубус с фотодиодом,
головка блескомера и блок питания. Показания информационного дисплея настраивают на середину
шкалы. Затем, поворачивая поляризационную пластинку (анализатор) вокруг оси, добиваются макси
мальных значений показаний на шкале информационного дисплея, что соответствует максимальному
значению пропускания через анализатор отраженного света от пластинки инфракрасного стекла ИКС6.
Зафиксировав анализатор в этом положении, показания информационного дисплея настраивают на
деление 65. Настройку показаний информационного дисплея выполняют перед каждым измерением.
Калибровку блескомера осуществляют в соответствии с 4.1.2.5.
5.3 Проведение измерений
5.3.1 Блескомер, предварительно настроенный, ставят на испытуемую поверхность покрытия.
Расположение блескомера по отношению к текстурному рисунку и волокнам древесины или древесного
материала окрашиваемой поверхности — по 4.1.3.1.
5.3.2 Фиксируют значение показаний зеркального отражения по шкале информационного дисплея
при положении анализатора, настроенного на максимальное пропускание отраженного света от испы
туемой поверхности покрытия. Затем, не изменяя положения блескомера на испытуемой поверхности,
поворачивают анализатор до фиксирования минимальных значений показаний на шкале информаци
онного дисплея, что соответствует минимальному значению пропускания через анализатор отраженно
го света от испытуемой поверхности покрытия. Измерение значений показаний при положении анали
затора на максимальное и минимальное пропускание отраженного света от испытуемой поверхности
осуществляют по 4.1.3.2.
5.3.3 Количество и выбор участков на испытуемой поверхности по 4.1.3.3.
Результаты записывают в протокол (см. приложение Е).
5.4 Обработка результатов
5.4.1 Блеск покрытия
RQQ
вычисляют по формуле
Рисунок 3
(
3
)
7