По выбранным I компонентам-индикаторам оценивают в соответствии с 5.1—5.4 характеристики однородности Х_нг- (/ = 1, 2,..., I). Каждую характеристику однородности для /-го компонента-индикатора оценивают для пробы массой M_oi и наименьшей представительной пробы М.

5.6 Для любого другого аттестуемого компонента, не входящего в число компонентов-индикаторов, характеристику однородности оценивают следующим образом.

Вычисляют относительные характеристики однородности компонентов-индикаторов

= ^SHj /А,    (Ю)

где А( — аттестационное значение СО /-го компонента-индикатора или среднее арифметическое результатов для /-го компонента по формуле (2).

Вычисляют среднюю характеристику однородности и среднюю массу проб для компонентов-индикаторов по формулам:

Гн = 1 С_ш./1 i = 1

Mo = 1 Mo/1. i = 1

Характеристику однородности для аттестуемых компонентов, не входящих в число компонентов-индикаторов, оценивают по формуле

Хн = Ун * А * (Mo/M)⁰’⁵ ,    (13)

где А — аттестованное значение СО;

М — наименьшая представительная проба СО для данного компонента.

5.7 Пример оценивания однородности дисперсного материала приведен в приложении Б.

6 Оценивание однородности монолитных материалов

6.1    Оценку характеристик однородности проводят после отработки технологии получения материала СО, исключающей регулярные изменения содержаний аттестуемого элемента, порядка приготовления материала СО и разделения его на экземпляры.

6.2    Из общего количества экземпляров СО отбирают случайным образом К экземпляров СО (К > 25).

6.3    Подготовляют на каждом отобранном экземпляре СО аналитические поверхности в соответствии с методикой спектрального анализа, используемой для оценивания однородности.

6.4    На каждой аналитической поверхности проводят два измерения со случайным выбором места возбуждения при оценивании однородности эмиссионным методом или два измерения без изменения положения СО — при оценивании однородности рентгенофлуоресцентным методом.

6.5    После проведения измерений разрезают каждый экземпляр СО по плоскости, параллельной аналитической поверхности. Положение плоскости разреза на каждом экземпляре СО определяют случайным образом на всей его длине (высоте). Подготовляют на срезах аналитические поверхности и проводят измерения в соответствии с 6.4.

6.6    Результаты измерений для каждого аттестуемого элемента записывают в таблицу, форма которой приведена в приложении В (таблица В.1). В таблице приняты следующие обозначения:

/ — номер экземпляра СО (/ = 1, 2,..., К);

j — номер аналитической поверхности (/' = 1, 2);

п — номер измерения (п = 1, 2);

Хщ — результат п-го измерения на j-й поверхности в /-м СО.

6.7    Вычисляют значения следующих величин и записывают их в соответствующие столбцы таблицы:

- сумму результатов для j-й аналитической поверхности в /-м СО

Ту = Хц + Ху ₂ и Т"у/2;    (14)

4