2.7. Для настройки и периодической проверки работоспособности и расшифровки
показанийаппаратурыдолжныиспользоватьсястандартныеобразцы,
разрабатываемые и изготавливаемые по технической документации разработчика
аппаратуры или по отраслевым и междуведомственным техническим документам.
2.8. При приемо-сдаточных, периодических и типовых испытаниях аппаратуры
должны использоваться стандартные образцы, разработанные предприятием -
разработчикомаппаратурыиизготовленныепредприятием-изготовителем
аппаратуры.
2.7, 2.8. (Измененная редакция, Изм. N 2).
2.9. Для проверки аппаратуры непосредственно перед проведением контроля
объектов, а также для контроля методом сравнения с объектом могут быть
использованы образцы, специально изготовленные потребителем аппаратуры, с
внесением определенного вида дефектов.
Наименьший размер выявляемых дефектов должен не менее чем в три раза
превышатьвеличину микронеровностейрельефаповерхности контролируемых
объектов.
Примечание. Допускается использование имитаторов.
2.10. (Исключен, Изм. N 2).
3. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ КОНТРОЛЯ
3.1. Подготовка аппаратуры и объекта контроля должна производиться в
соответствии с технической документацией на контроль и включать:
подготовку объекта контроля к операциям контроля;
проверку работоспособности аппаратуры;
выбор условий контроля.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
3.2.Подготовкаконтролируемогообъектакоперациямконтролядолжна
производиться в следующей последовательности:
до начала проведения контроля с поверхности объекта контроля удаляют частицы
или загрязнения, мешающие проведению контроля;
определяют границы контролируемого участка и характер дефектов.
3.3. Проверка работоспособности аппаратуры должна производиться в соответствии
с инструкцией по эксплуатационной документации.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
3.4. Выбор условий контроля должен сводиться к обеспечению нормальных условий
освещенности контролируемого объекта, установлению требуемого режима работы и
взаимного расположения объекта контроля и аппаратуры.
3.5. Схемы испытаний методами оптического вида контроля приведены в табл.2.
Таблица 2
Способ освещения
Схема испытанийОбласти применения
В отраженном
свете
Контроль поверхностных дефектов
непрозрачных материалов, измерение
линейных размеров
В проходящем
свете
Контроль внутренних напряжений,
наличия включений в прозрачных
материалах, измерение линейных
размеров
В рассеянном
свете
Контроль диффузно-отражающих
изделий, обнаружение включений по
методу темного поля, измерение
блеска, цвета и яркости поверхности
Комбинированное
освещение
Контроль кристаллов, полупрозрачных
материалов, анализ структуры и
микрорельефа поверхности изделий
Обозначения: 1 - источник излучения; 2 - объект контроля; 3 - приемное устройство; 4
- зеркальная составляющая отраженного потока.
Примечания: