ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ
МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКОГО ВИДА
Non-destructive testing. Optic methods.
General requirements
ОКСТУ 0011*
_______________
* Введен дополнительно, Изм. N 2.
Срок действия с 1980-01-01
до 1990-01-01*
______________________________
* Ограничение срока действия снято по протоколу N 4-93
Межгосударственного Совета по стандартизации,
метрологии и сертификации.
(ИУС N 4, 1994 год).
Примечание "КОДЕКС".
ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ постановлением Государственного комитета СССР по
стандартам от 7 февраля 1979 г. N 484
Проверен в 1984 г. Постановлением Госстандарта от 22.08.84 N 2944 срок действия
продлен до 01.01.90
ПЕРЕИЗДАНИЕ (ноябрь 1984 г.) с Изменением N 1, утвержденным в августе 1984 г.
(ИУС 12-84)
ВНЕСЕНО Изменение N 2, утвержденное и введенное в действие постановлением
Госстандарта СССР от 27.06.89 N 2064 c 01.01.90 и опубликованное в ИУС N 11, 1989 г.
Изменение N 2 внесено юридическим бюро "Кодекс" по тексту ИУС N 11, 1989 г.
Настоящий стандарт распространяется на методы оптического вида
неразрушающего контроля объектов и устанавливает общие требования к аппаратуре,
стандартным образцам, порядку подготовки и проведению контроля, оформлению
ГОСТ 23479-79результатов и требования безопасности.
Группа Т59Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их пояснения приведены в
справочном приложении.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
1. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
1.1. Методы оптического вида контроля основаны на применении электромагнитного
Общие требования
излучения в диапазоне длин волн отдомкм.
1.2. Методы оптического вида контроля и области их применения приведены в
табл.1.
Таблица 1
Чувстви-Погреш-
тельность ность,
%
0,1 мм-
0,1-1,0
0,1
1,0
Название методаОбласть примененияФакторы,Контролируемые
ограничивающие параметры
область
применения
ВизуальныйДефектоскопия,Диапазон длинДефектность
контроль формыволн долженотклонение от
быть 0,38-0,76заданной
мкмформы
Визуально-оптическийДефектоскопия сМинимальнаяРазмеры
помощью микроскопов, яркостьизделий,
стереоскопия,изображениядефектов,
размерный контроль собъектаотклонения от
помощьюконтроля незаданной
проекционных формы
устройств, эндоскопия
менее 1 кд/м
внутренних
поверхностей,
интроскопия
Интерферометрический ОптическаяПрименимСферичность,
толщинометрия,только дляплоскостность,
контроль формыполированныхтолщина
полированных изделий, поверхностей
анализ шероховатости
ДифракционныйКонтроль размеровРазмерыДиаметры
тонких волокон, формы дефектовволокон,
острых кромок,должны бытьразмеры
структурысравнимы сдефектов,
длиной волныострых кромок
света
ПоляризационныйКонтроль напряжений в ПрименимВращение
прозрачных средахтолько дляплоскости
методомоптическиполяризации
фотоупругости, анализ прозрачных сред двулучепрелом-
степени поляризации ление, толщина
источников света,
эллипсометрическая
толщинометрия
1,0