AJDocs
Указатель
И поиск
Новые формы (Учет|Налоги|КНД
ОКУД|КФД|КБК|СФР|Кадры)
Нотариусы
Москвы и РФ
Регионы
Города
ГОСТы
Новости
Статьи
Ещё
Практика по документам
Курс валют (ЦБ) криптовалют (Бинанс)
Крипта | блокчейн | теханализ
Банкротство физ лиц
Советы юристов
Пособия и пенсии
Справочник Судов
Справочник УФССП
Гороскоп
Игра Фишка для гениев
О проекте
Реклама
Поиск по документам
Поиск по ГОСТам
Яндекс поиск
Гугл поиск
Гороскоп
Игра для умников
Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Найти
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Найти
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть гороскоп на неделю
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями
Открыть игру, играйте в нерабочее время :)
ГОСТы постранично
—
ГОСТ 18986.5-73
— страница 7
ГОСТ 18986.5-73; Страница 7
или поделиться
Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы
ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод)
ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления)
ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда Semiconductor diodes. Methods for measuring life time (Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ)
Страница 7
Страница 1
Untitled document