Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями
ГОСТы постранично — титульный лист ГОСТ 18986.5-73

ГОСТ 18986.5-73

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод) ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления) ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда Semiconductor diodes. Methods for measuring life time (Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ)

Диоды полупроводниковые

Метод измерения времени выключения Диоды полупроводниковые

Метод измерения времени выключения Semiconductor diodes

Страница 1Untitled document