AJDocs
Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть гороскоп на неделю
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями
Открыть игру, играйте в нерабочее время :)
ГОСТы постранично — титульный лист ГОСТ 18986.24-83

ГОСТ 18986.24-83

или поделиться
Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:. метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;. метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц) ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки) ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод)

Диоды полупроводниковые

Метод измерения пробивного напряжения Диоды полупроводниковые

Метод измерения пробивного напряжения Semiconductor diodes

Страница 1Untitled document
 © 2017-2026 AJDocs — Живые юридические документы
Мы не храним персональных и любых иных данных пользователей нашего сайта; советуем обращаться к юристам, экспертам и не несем ответственности за достоверность информации, опубликованной на сайте.
Мы в социальных сетях
Телеграм
Youtube
Rutube
ВКонтакте
ОК
Яндекс.Дзен
Электронная почта