Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями
ГОСТы постранично — титульный лист ГОСТ 18986.23-80

ГОСТ 18986.23-80

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления Reference diodes. Methods for measuring differential resistance (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе) ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения) ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки)

Стабилитроны полупроводниковые

Методы измерения спектральной плотности шума Стабилитроны полупроводниковые

Методы измерения спектральной плотности шума Zener diodes

Methods for measuring spectral noise density (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:

метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц
30 МГц;

Страница 1Untitled document