AJDocs
Указатель
И поиск
Новые формы (Учет|Налоги|КНД
ОКУД|КФД|КБК|СФР|Кадры)
Нотариусы
Москвы и РФ
Регионы
Города
ГОСТы
Новости
Статьи
Ещё
Практика по документам
Курс валют (ЦБ) криптовалют (Бинанс)
Крипта | блокчейн | теханализ
Банкротство физ лиц
Советы юристов
Пособия и пенсии
Справочник Судов
Справочник УФССП
Гороскоп
Игра Фишка для гениев
О проекте
Реклама
Поиск по документам
Поиск по ГОСТам
Яндекс поиск
Гугл поиск
Гороскоп
Игра для умников
Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Найти
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Найти
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть гороскоп на неделю
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями
Открыть игру, играйте в нерабочее время :)
ГОСТы постранично
—
ГОСТ 18986.10-74
— страница 4
ГОСТ 18986.10-74; Страница 4
или поделиться
Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы
ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current (Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки)
ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь ГОСТ 18986.11-84 Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods (Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:. для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц;. для туннельных диодов)
ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode (Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости)
Страница 4
Страница 1
Untitled document