5
дартом следует руководствоваться заменяющим (измененным) стандартом. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, применяется в части, не затрагивающей эту ссылку.
- Определение световых и солнечных характеристик
- Общие положения
Световые и солнечные характеристики остекления определяют при квазипараллелы-юм, почти нормальном падении излучения. При проведении измерения угол между осыю потока излучения, падающего на образец, и нормалью к его поверхности должен быть не более 10°. Угол между осыю и любым лучом потока излучения не должен превышать 5° (см. [2]).
Основными характеристиками являются:
- спектральный коэффициент пропускания т(А), спектральный коэффициент наружного отражения ро(Х)испектралыныйкоэффициентвнутреннегоотражения рДА) вдиапазонедлинволнот300до2500нм;
- коэффициент пропускания света xv, коэффициент наружного отражения света р^о и коэффициент внутреннего отражения света pv/ для стандартного источника света Dю;
- коэффициент прямого пропускания солнечной энергии те и коэффициент прямого отражения солнечной энергии pe;
- коэффициент общего пропускания солнечной энергии (солнечный фактор) g;
- коэффициент пропускания ультрафиолетового излучения (далее — коэффициентУФ-пропуска- ния) tuv;
- общий индекс цветопередачи Ra.
При определении значения характеристики для стекла другой толщины (в случае стекла без покрытия) или для другого стекла, на которое нанесено такое же покрытие, его можно получить расчетным путем (см. приложение А).
Если нет дополнительных указаний, основные характеристики следует определять при стандартных условиях, приведенных в 3.3—3.7. При использовании нестандартных условий, приведенных в разделе 4, эти условия должны быть указаны.
При расчете основных характеристик многослойного остекления следует использовать спектральные данные по каждому слою остекления, а не интегральные значения.
- Проведение оптических измерений
Оптические измерения коэффициентов пропускания и отражения требуют особой тщательности и больших экспериментальных навыков, чтобы обеспечить погрешность определения коэффициентов пропускания и отражения не более + 0,01.
В промышленных спектрофотометрах (с интегрирующими сферами или без них) имеется ряд источников погрешности при измерениях коэффициентов пропускания и отражения листовых строительных стекол.
Калибровку шкалы длин волн и линейность фотометрической шкалы промышленных спектрофотометров необходимо периодически проверять с помощью эталонов, полученных в метрологических лабораториях.
Шкалу длин волн калибруют путем проведения измерений на стеклянных пластинах или растворах с относительно узкими полосами поглощения при определенных длинах волн; линейность фотометрической шкалы проверяют с помощью нейтральных фильтров с определенным уровнем пропускания.
Для измерения коэффициентов отражения следует использовать эталоны с отражающими свойствами (т. е. уровнем отражения и соотношением рассеянного и прямого отражения), близкими к испытуемым образцам.
Толстые образцы (например, многослойное стекло или стеклопакеты) могут изменять оптический путь луча прибора по сравнению с оптическим путем в воздухе, поэтому луч, прошедший через образец, может попадать на область детектора, отличающуюся по чувствительности.
Подобный источник погрешности возникает при работе с клиновидными образцами, искажающими прошедшие (отраженные) лучи. Рекомендуется проверять сходимость результатов путем проведения повторных измерений после поворота образца.
Кроме того, при измерении коэффициентов отражения листы стекла вызывают боковой сдвиг луча, отраженного от второй поверхности, приводя к потерям отражения (что особенно заметно в случае толстых и/или клиновидных образцов). Этот источник погрешности следует принимать во внимание, в особенности при измерении коэффициентов отражения со стороны без покрытия. Чтобы определить количественно и скорректировать систематические ошибки, рекомендуется использовать отражающие эталоны примерно той же толщины, что и у измеряемых образцов.
Измерение коэффициентов пропускания и отражения рассеивающих образцов (или образцов, имеющих заметную долю рассеяния, или клиновидных образцов) следует проводить с использованием интегрирующих сфер, размеры которых позволяют собрать все рассеянное прошедшее или отраженное излучение. Сфера должна иметь соответствующий диаметр, а ее внутренняя поверхность должна быть покрыта материалом с