С. 4ГОСТ
4.3.При нормировании толщины слоя кристаллизации в нор
мативно-техническойдокументации на продукцию его толщину
определяют под микроскопом в следующей последовательности:
готовят микроскоп для работы в отраженном свете и опреде
ляют цену деления окулярного микрометра с помощью объект-
микрометра для соответствующего увеличения объектива;
от образцов откалывают куски для рассмотрения поверхности
на границе скола;
поверхность скола располагают нормально к оптической оси
микроскопа;
осматривают слой кристаллизации по периметру скола образ
цов;
проводят не менее 10 измерений толщины слоя кристаллизации
в нескольких точках по периметру скола;
за результат испытания толщины слоя кристаллизации прини
мают среднее арифметическое показателен 10 измерений, отлича
ющихся от среднего не более чем на 10%.
4.2, 4.3. (Измененная редакция, Изм. № »).
4.4—4.6. (Исключены, Изм. .’й 1).