УДК 621.382.019 : 006.354Группа Е69
Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы ЙС Т А Н Д А Р ТС О Ю З АС С Р
ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СИЛОВЫЕ
ГОСТ
Методы измерений
.и
испытаний
24461—80
Power semiconductor devices.
Test and measurement methods
(CT СЭВ 1656—79J
OKU 34 ITOP
Срои действияс 01.01.82
-до 010195-
Настомщий стандарт распространяется на силовые полупро8о4-‘
пиковые приборы (и дальнейшем — приборы): кроме арсеннд-гал-
лиевых приборов, диоды, тиристоры на максимально допустимые
средние или действующие токи 10 А и более н устанавливает ме
тоды измерения параметров и проверки (испытаний) предельно
допустимых значений параметров, н том числе условия, схемы, ре
жимы, требования к элементам схем и контрольно-измерительно му
оборудованию, последовательность операций при измерениях и
проверках.
Основные понятия, встречающиеся в стандарте, приведены в
справочном приложении 1.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
1.1. Измерения и проверки, если не указано особо, проводятся
при нормальных климатических условиях по ГОСТ 15150—69.
1.2. Если не оговорено особо, общая относительная погрешность
измерения или проверки не должна превышать ifcl0% для им
пульсного прямого напряжения или импульсного напряжения в
открытом состоянии и максимально допустимого неповторяющего
ся импульсного напряжения и ±15% для остальных параметров
с доверительной вероятностью 0,95. Погрешность измерения тепло
вою сопротивления не устанавливается.
Перепечатка воспрещена
1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
Издание официальное
★
(?) Издательство стандартов, 1980
Издательство стандартов, 1990
Переиздание с Изменениями