С 9 ГОСТ 27496.2-67 (МЭК 377-2-77)
ора под на рузкой;
б)металлкзаипя плоских поверхностей при помощи соответствующего стан
дартного метода рекомендуется при измерении диэлектрической иронкцаемоств
образцов, имеющих вг> 5. Образец зажимается между электродами микро
метрического конденсатора. При измерении тангенса угла диэлектрических потерь
у образцов с низкими потерями следует пользоваться методом а).
А1.5. О ц ен к а р е з у л ь т а т о в
А1.5.1. Параметры, подлежащие измерению:
диаметр образца d,\
толщина образца Л»;
резонирующая часюта ft резонатора под нагрузкой;
полуширина резонансной кривой dli.1 или соответствующие показания веко
вого микрометра при нагруженном резонаторе, позволяющая определи!ь
Оь;
расстояние между электродами микрометрического конденсатора «г. резо
нат
расстояние
г
между электродами микрометрического конденсатора Ли. вос
станавливающего резонанс при ft после извлечения образца;
полуширина резонансной кривой — й/„’ или соответствующие показания
бокового микрометра ги* после извлечения образца, позволяющая определить
<?-
AI.5.2. Данные, которые должны быть получены из калибровочной схемы;
емкость Су при расстоянии Л„;
емкость Сto при расстоянии Ль.
В случае необходимости:
полуширина резонансной кривой 6ft при частоте ft, соответствующая по
казаниям бокового микрометра г*.1;
полуширина резонансной кривой б/« при частоте /* —ft , соответствующая
показаниям бокового микрометра л.1.
Л1.5.3. Расчеты и результаты:
b
(3)
C =«,
c
w;
(За)
а) если электроды не касаются образца (воздушный зазор At -—АЛ):
С’,о—С,0- ~
(4)
lg Ь—
А„А.
• ■f c S&h ’
(
6
)
а) если электроды касаются образца:
Си—СLa+Ceo
(?)
* Только для метола качающейся частоты.
1 Только для метода фиксиронанкой частоты.
24