ГОСТ Р 52728—2007
М — ценаделения или единицы младшего разряда прибора. мкОм/Ом;
Ф, — значение функции влияния температуры на чувствительность тенэорезистора;
Дсж— местные деформации, обусловленные ужесточающим влиянием тенэорезистора изащит
ного устройства;
5, — температурная характеристика тенэорезистора, установленного на объекте. мкОм/Ом;
4П — неинформативная составляющая выходного сигнала тонзорезистора, обусловленная
ползучестью тенэорезистора. мкОм/Ом;
— неинформативная составляющая выходного сигнала тенэорезистора, связанная с дрей
фом выходного сигнала. мкОм/Ом;
Дг., — местные деформации, обусловленные влиянием тенэорезистора и его защитного устрой
ства натемпературное поледетали;
Йс/ — температурное приращение сопротивления тензорезистора. обусловленное разностью
температурдетали и тенэорезистора (впредположении, чтотемпературы чувствительного
элемента и подложки одинаковы);
а— температурный коэффициентлинейного расширения. I^C:
S — среднеквадратическая погрешность измерений или определения влияющей величины.
4 Общие положения
4.1 Измерение деформаций выполняют методом тензометрии с применением тензорезисторов,
принцип действия которых основан на тензореэистивном эффекте, т.е. изменении электрического
сопротивления проводника при его деформировании.
4.2 Измерениедеформацийявляетсякосвенным измерением. При воздействиинатензорезистор
температуры идругих влияющих факторов измереннуюдеформацию вычисляют поформуле
кФ
1
Еи
- i i k
,
.
( )
4.3Выходнойсигналтензорезисторадляизмерительногоприбораспропорциональнойфункцией
преобразования вычисляют поформуле
4 ’М И + ^ р .<2>
где г, — сопротивление соединительныхпроводов (сучетом приращения оттемпературы);
R — начальное сопротивление тензорезистора;
Дпр— разностьотсчетовизмерительногополумостаприбора, вызванногоизменением сопротивления
тензорезистора.
4.4 Структура и значение неинформативной составляющей выходного сигнала тензорезистора
определяются условиямиизмерений(воздействием влияющихфакторов)и принятойсхемойизмерений
(способом термокомпенсации) ит.п.
4.5 При измерениях статических деформаций (стационарном режиме) параметр с* может быть
представлен выражением:
О)
где ^ — температурная характеристикаустановленного на объекттензорезистора;
5пи4Д— неинформативные составляющие выходного сигнала тензорезистора. связанные с ползучес
тью тензорезистора и дрейфом выходногосигнала.
4.6 Температурную характеристику установленного тензорезистора с, рассчитывают экспери
ментально как разность индивидуальной характеристики неприваренного тензорезистора и средней
разностной характеристики, которая определяется как разность средних значений температурных
характеристиквыборок(из партии) неприваренных и приваренных тензорезисторов. При натурном экс
перименте ^ср можнонайти поданным тензорезисторов-свидетелейтой же партии, чтои рабочиетензо-
резисторы, иустановленных на исследуемомобъекте рядомс рабочимитензореэисторами на образцах
из материала тойже марки (плавки),что инатурныйобъект. Выборка тензорезисторов-свидетелейдол
жна быть достаточной для надежной оценки Д^ср. Схема установки тензорезисторов-свидетелей
приведена на рисунке 1.
2