ВВЕДЕНИЕ
Настоящий стандарт подготовлен техническим комитетом М> 47 МЭК «Полупроводниковые
приборы».
Стандарт представляет собой форму технических условий на стабилитроны и опорные диоды.
Данный стандарт основан на следующих документах:
Документ но Правилу шести мссяисн
Отчет о голосовании
47 (Ц Б ) 897
47 (Ц Б ) 940
Более подробную информацию можно найти в Отчете о голосовании, указанном выше.
Обозначение QC и номер на обложке данной публикации являются номером ТУ в системе
сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭ’Г).
Другие публикации МЭК, на которые даются ссылки в настоящем стандарте:
68-2-17 (1978) Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2.
Испытания. Испытание Q. Герметичность
191-2 (1966) Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры
Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы
747-3 (1985) Часть 3. Сигнальные диоды (включая переключательные) и диоды-регуляторы
тока и напряжения
749 (1984) Полупроводниковые приборы. Механические и климатические испытания
III