ГОСТ 12113—94
а) изотропны или представляют собой основное сечение одно
осных минералов;
б) прочны и коррозионноустойчнвы;
в) сохраняют постоянный показатель отражения в течение дли
тельного времени;
г) нс содержат включений, впадин, границ зерен, внутренних
трещин и дефектов;
д) имеют низкий показатель абсорбции.
5.1.2 Эталоны должны быть толщиной свыше 5 мм или иметь
форму трехгранной призмы (301603) во избежание попадания 8
объектив количества света больше того, которое отражается от
его верхней (рабочей) поверхности.
В качестве рабочей поверхности для определения показателя
отражения используют отполированную грань. Основание и боко
вые стороны эталона покрывают непрозрачным черным лаком или
помещают в прочную непрозрачную оправу.
Ход луча в клинообразном эталоне, вставленном в черную смо
лу, при фотометрических измерениях показателя отражения пока
зан на рисунке I.
5.1.3 При проведении измерений применяют не менее трех эта
лонов с показателями отражения, близкими или перекрывающими
область измерения показателей отражения исследуемых образцов.
Для измерения показателя отражения угля, равного 1,0%, следу
ет применять эталоны с показателями отражения приблизительно
0,6; 1,0; 1,6%.
Средние показатели преломления и отражения для общеупот
ребительных эталонов приведены в таблице 1.
5.1.4 Истинные значения показателя отражения эталонов опре
деляют в специальных оптических лабораториях или рассчитыва
ют по показателю преломления.
Зная показатель преломления л и показатель абсорбции а (ес
ли он значительный) эталона при длине волны 546 им, можно вы
числить показатель отражения (У?) в процентах по формуле
„(п-1.518)»+я»о»^
Л(rt-*-l,518)7+nv«* ’ lw>
Если показатель преломления не известен или предполагается,
что свойства поверхности могут не точно соответствовать номи
нальным основным свойствам, показатель отражения определяют
тщательным сравнением с эталоном с известным показателем от
ражения.
5.1.5 Нулевой эталон применяют для устранения влияния тем
пового тока фотоэлектронного умножителя и рассеянного света в
оптической системе микроскопа. В качестве нулевого эталона мож-
4