ГОСТ 851.10-93
Спирт этиловый —по ГОСТ 18300.
Бязь - по ГОСТ 29298.
Батист - по ГОСТ 29298.
Пинцет - по ГОСТ 21241.
2.2 При фотографической регистрации спектра
Спектрограф кварцевый средней дисперсии типа ИСП-30 или аналогичные приборы.
Слектропроектортипа СП-18 или аналогичные приборы.
Микрофотометр типа МФ-2 или аналогичные приборы.
Фотопластинки спектрографические типов: И. ЭС, УФШ, ПФС и другие.
Проявитель:
раствор Л:
вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — 1000 см’;
метол (пара —метиламинофеносульфат) по ГОСТ 25664 — 1г;
натрийсерпистокислый(сульфит натрия) безводный по ГОСТ 195 —26 г;
гидрохинон (парадиоксибензол) по ГОСТ 19627 —5 г;
раствор Б:
вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — 1000 см1;
натрий углекислый безводный по ГОСТ 83 —20 г;
калий бромистый по ГОСТ 4160 — 1 г.
Перед проявлением растворы Л и В смешивают вобъемном соотношении 1:1.
Фиксаж:
вода дистиллированная по ГОСТ 6709 — 1000см1;
тиосульфат натрия (гипосульфат натрия) по ГОСТ 244 —300 г;
натрий серпистокислый безводный по ГОСГ 195 —26 г.
2.3 Допускается применение проявителя и фиксажа других составов, не ухудшающих качество
фотографической регистрации спектра.
2.4 При фотоэлектрической регистрации спектра
Установка фотоэлектрическая типаДФС-36. МФС-8 или аналогичные приборы.
3 Подготовка к анализу
Пробу отлипают в двух-четырехстержневой металлический кокиль диаметром 9 мм с плотным
замком, чтобы избежать заливов. Отлитая проба должна быть плотной, без раковин и шлаковых
включений. Электроды отрезают от литника, концы электродов загачивают на токарном стайке на
полусферу. При появлении раковин на сферической поверхности электрода, последний затачивают,то
тех пор, пока не исчезнет дефект.
4 Проведение анализа
/с,
4.1 Измерения на спектрографе проводят при освещении щели трехлинзовым или однолинзовым
конденсором с полностью открытой промежуточной диафрагмой.
Для возбуждения спектра атомов кремния, железа, никеля, алюминия, меди, марганца и титана
используют дугу переменного тока с параметрами разряда: сила тока —(4,0 ± 0.2) Л. время предвари
тельного обжига — (5 ± 1) с, время экспозиции подбирают в зависимости от чувствительности
фотопластинок, аналитический промежуток междудвумя одинаковыми электродами —(2,0 ± 0,1) мм.
Величину промежутка измеряют по шаблону и методу теневой проекции.
Не допускается диафрагмирование источника света, излучающего облака дуги выступающими
краями пробы или опрапами деталей конденсора или спектрографа.
Наодной фотопластинке фотографируют водинаковых условиях стандартные образцы и пробы
не менее чем подва раза.
4.2 Для измерений массовой доли алюминия, меди, марганца, кремния, железа, никеля на
фотоэлектрической установке используют для возбуждения спектра дугу переменного тока с
параметрами разряда: сила тока —(2,5—4,0) Л в зависимости от чувствительности фотоумножите
лей, напряжение питающей сети —(220 ± 10) В. фаза поджига —90*. частота следования разрядов
— 100 импразрядная индуктивность —10 мкГц, разрядное сопротивление реостата —1.5 Ом.
93
2