ГОСТ Р ИСО 5799—2006
но получить однородное поле для экспонирования пленок и измерительного прибора (если имеется).
Суммарное рассеянное излучение, попадающее на пленку или измерительный прибор, недолжно пре
вышать 5 % первичного излучения. Изготовление устройствдля закрепления пленки, фильтров и иони
зационной камеры из материалов с малым атомным номером и наименьшей массой позволяет
уменьшить рассеянное излучение (см. приложение С).
5.3.5 Модуляция
Пленка должна облучаться калиброванной серией экспозиций, обеспечивающих в результате
получениесерииплотностейв диапазонеот0.2до 2,3над суммарной плотностьюосновы ивуали. Экспо
нирование всей полезной площади каждой экспонируемой ступени должно быть однородным с точ
ностью не менее 3 %. Десятичный логарифм шага экспозиции не должен превышать 0.15. Для каждой
экспозиции дозу в грэях контролируют с помощью ионизационной камеры, откалиброванной при ка
чествеи интенсивностиизлучения, которые используютдляэкспонирования пленок4>.Отдельныйобра
зец пленки должен быть оставлен неэкспонированным для измерения суммарной плотности основы и
вуали.
5.4 Обработка
5.4.1 Подготовка образцов
Междуэкспонированием и обработкой образцыдолжны находиться при температуре (23 ± 5) °С и
относительной влажности воздуха (50 ± 20) %. Обработку начинают не ранее чем через 30 мин и не
позднее чем через 8ч после экспонирования.
5.4.2 Требования к обработке пленки
Ввиду большого разнообразия применяемых химических реактивов иоборудования в настоящем
стандарте требования к процессу обработки не приводятся. Сведения о чувствительности по ИСО и
среднем градиентепо ИСО, предоставляемыеизготовителями пленки, какправило, имеютотношение к
пленкетолько при ее обработке в соответствии с рекомендациями, которые позволяют получитьфотог
рафические характеристики, свойственные конкретному процессу обработки. Информация о процессе
обработкипленкидолжна бытьполученаот изготовителяили других лиц, сообщающихуровеньчувстви
тельности по ИСО и среднего градиента по ИСО. Эта информация должна включать в себя данные о
химических реактивах, времени, температуре, перемешивании, оборудовании и процедурах, использу
емых на каждом этапе процесса обработки, а также дополнительныесведения, необходимыедля полу
чения указанных выше сенситометрических параметров. Значения чувствительности и среднего
градиента, полученные при использовании разных процедур обработки пленки, могут существенно раз
личаться. Потребитель должен знать, что при изменении процесса обработки одной и той же пленки
могутбыть получены разные значениячувствительности исреднего градиента, и изменения этих пара
метровмогутсопровождаться изменениямидругихеесенситометрическихифизическиххарактеристик.
5.5 Денситометрия
Оптическуюдиффузную плотность по ИСО для изображений, полученных послеобработки, изме
ряютденситометром, соответствующим геометрическим требованиям по ИСО 5-2 и спектральным тре
бованиямпоИСО5-3. Минимальнаяапертурадолжнабыть7мм2.Измеренияпроводятнарасстояниине
менее 1мм от края экспонированной площади.
5.6 Оценка
5.6.1 Характеристическая кривая
Для получения характеристической кривой, аналогичной показанной на рисунке 1. строят график
зависимости значения оптической диффузной плотности по ИСО от десятичного логарифма, соответ
ствующего значения кермы в воздухе, выраженногов грэях.
5.6.2 Суммарная плотность основы и вуали
Суммарную плотность основы и вуали определяют на неэкспонированном образце тойже пленки,
обработанном одновременно собразцами, экспонированнымидля получения характеристической кри
вой.
4> Если калибровка прибора возможна только при определенных слоях половинного ослабления (близких, но
несовпадающих с установленными в 5.3.3). то для требуемого слоя половинного ослабления допускается интерпо
ляция из графика калибровок по упомянутому диапазону слоя половинного ослабления. Применяемые для этой це ли
параметры излучения приведены в приложении А.
3