15
D.2 Испытательное оборудование
D.2.1 Лабораторный источник света
В качестве лабораторного источника света используют дуговую ксеноновую лампу.
Для моделирования естественного облучения, близкого к дневному освещению у поверхности земли (метод А), энергия излучения должна быть отфильтрована согласно таблице D.1, а для облучения, близкого к дневному освещению через оконное стекло (метод В), - согласно таблице D.2.
Таблица D.1 - Относительная спектральная освещенность (метод А)
Длина волны λ, нм | Относительная спектральная освещенность, % |
290 < λ ≤ 800 | 100 |
λ < 290 | 0 |
290 < λ ≤ 320 | 0,6±0,2 |
320 < λ ≤ 360 | 4,2±0,5 |
360 < λ ≤ 400 | 6,2±1,0 |
Таблица D.2 - Относительная спектральная освещенность (метод В)
Длина волны λ, нм | Относительная спектральная освещенность, % |
300 < λ ≤ 800 | 100 |
λ ≤ 300 | 0 |
300 < λ ≤ 320 | <0,1 |
320 < λ ≤ 360 | 3,0±0,5 |
360 < λ ≤ 400 | 6,0±1,0 |
Освещенность поверхности испытуемого образца должна составлять 550 Вт/м2 в полосе пропускания 290 нм ≤ λ ≤ 800 нм.
Освещенность не должна изменяться более чем на 10% для любых двух точек плоскости держателя, параллельной оси лампы. Если это невозможно, образцы должны периодически переставляться, чтобы обеспечить эквивалентные периоды облучения в каждом месте.
D.2.2 Испытательная камера
Испытательная камера содержит раму с держателями образцов и обеспечивает, при необходимости, возможность обдува образцов воздухом для регулирования температуры.
Лампа должна быть расположена относительно образцов так, чтобы освещенность поверхности образцов соответствовала требованиям D.2.1.
При появлении озона в процессе работы лампы, она должна быть изолирована от испытуемых образцов и технического персонала.
Чтобы уменьшить влияние любого эксцентриситета в лампе, или при использовании в камере более одной лампы для увеличения освещенности, равномерность облучения может быть обеспечена вращением рамы с образцами вокруг лампы (ламп) и, при необходимости, периодическим изменением положения каждого образца.
Можно также вращать держатели образцов относительно их собственной оси, облучая таким образом ту сторону образца, которая не была ранее облучена.
D.2.3 Радиометр
Для измерения освещенности поверхности и экспозиции образцов в комплект испытательной установки может входить радиометр (фотоэлектронный датчик).
Радиометр, устанавливают так, чтобы он получал то же самое количество излучения, что и поверхность образца. Если радиометр расположен не в плоскости образца, он должен освещаться под тем же углом, что и образец, и быть откалиброван так, чтобы регистрировать параметры облучения образца.
Радиометр должен быть откалиброван в диапазоне излучения 290 нм ≤ λ ≤ 400 нм (для метода А) и 300 нм ≤ λ ≤ 400 нм (для метода В). Результаты калибровки должны быть зарегистрированы в соответствии с рекомендациями изготовителя радиометра.
D.2.4 Датчики температуры
Используют либо черный стандартный термометр, либо термометр “черная панель” одного из существующих типов. Термометр желательно закрепить на держателе образца так, чтобы он облучался и охлаждался как и закрепленные в держателях образцы. Он может также быть расположен на фиксированном расстоянии от лампы, отличном от расстояния