15
отражения эталонных пластин измеряют также с помощью фотометра или других средств измерения коэффициентов диффузного отражения.
В.3 Коэффициенты отражения поверхностей определяют также косвенным методом, исходя из результатов измерений освещенности и яркости исследуемых поверхностей.
При измерении освещенности исследуемую поверхность освещают источником света типа А по ГОСТ 7721 и проводят измерения, как указано в 6.2 настоящего стандарта.
При измерении яркости яркомер устанавливают под углом 45° к нормали фотометрируемой поверхности и измеряют ее яркость в соответствии с 6.3.2 настоящего стандарта.
Коэффициент отражения 
поверхности рассчитывают по формуле
,
где 
- яркость поверхности, кд/м
;
- освещенность поверхности, лк.
ПРИЛОЖЕНИЕ Г
(рекомендуемое)
ПЕРЕЧЕНЬ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ
Наименование
| Обозначение типа
|
1 Люксметр
| Ю-116
|
2 Яркомер
| ЯРМ-3 ЯСО-1
|
3 Фотометр отражения
| ФО-1;
|
4 Шумомер
| ВШВ-003; ШВК-1 с фильтрами ФЭ-2; 00014 с фильтрами 01016 (01017), 00017,00023 - фирма "Роботрон"; 2230 с фильтрами 1624 - фирма "Брюль и Къер"; 2209 с фильтрами 1613, 1616 - фирма "Брюль и Къер"
|
5 Психрометр
| МВ-4М; ПБУ-1М
|
6 Кататермометр
| Шаровой; цилиндрический
|