ГОСТ IEC 61988-5—2016
ISO 2859-1. Sampling procedures for inspection by attributes — Part
1:
Sampling schemes indexed by
acceptance quality limit (AQL) forlot-by-lot inspection (Процедуры выборочного контроля no альтернативному
признаку. Часть 1. Схемы выборки, индексированные по допустимому уровню качества, при контроле
каждой партии)
ISO 2859-10. Sampling procedures for inspection by attributes — Part 10: Introduction to the ISO 2859
series of standards for sampling for inspection by attributes (Процедуры выборочного контроля no альтер
нативному признаку. Часть 10. Введение к стандартам серии 2859 ИСО для выборки при контроле по
альтернативному признаку)
ISO 3534-2, Statistics — Vocabulary and symbols — Part 2: Applied statistics (Статистика. Словарь
и символы. Часть 2. Прикладная статистика)
3 Термины, определения, единицы измерений, обозначения и сокращения
3.1 Термины и определения
В настоящем стандарте применены термины с соответствующими определениями, установлен
ные в IEC 61988-1, стандартах серии IEC 60050. IECQ 01 и ISO 3534-2.
П р и м е ч а н и е — Специальные термины по статистическому контролю качества приведены в IECQ 01
и ISO 3534-2.
3.2 Единицы измерений, обозначения и сокращения
Единицы измерений, графические и буквенные обозначения должны, по возможности, соответ
ствовать установленным в стандартах серии IEC 60027, IEC 60617 и ISO 1000:1992.
Л
юбые другие единицы измерений, обозначения или терминология, характерные для одного из
устройств, входящих в область действия настоящего стандарта, должны отвечать требованиям соот
ветствующих стандартов МЭК или ИСО (см. раздел 2) или выбираться в соответствии с принципами,
установленными в перечисленных выше стандартах.
В настоящем документе используют следующие сокращения:
AQL — допустимый уровень качества (см. 8.4.1);
LTPD — допустимый процент брака в партии (см. 8.4.2):
SI— орган по надзору;
DMR
— назначенный представитель руководства.
4 Приоритетность применения документов
Документы ранжируются по степени важности и приоритетности в следующем порядке:
a)технические требования на конкретную продукцию;
b
) форма технических требований на конкретную продукцию;
c) групповые технические требования;
d) o6tqne технические требования;
e) основные (базовые) технические требования;
0 правила процедуры, принятые в системе оценки качества МЭК для электронных компонентов
(IECQ);
д)любые другие международные документы (например, стандарты МЭК), на которые приведены
ссылки;
h) национальные документы.
Такая же приоритетность должна применяться и к аналогичным национальным документам.
Технические требования на конкретную продукцию разрабатывают национальные организации по
стандартизации (NSO), одобренный (аттестованный) производитель, отраслевые исследовательские
группы или пользователи, как указано в 1.4 IEC QC 001002-2:1998.
Форму технических требований на конкретную продукцию, групповые технические требования и
общие технические требования (настоящий стандарт) разрабатывает технический комитет МЭК.
Основные (базовые) технические требования являются документами МЭК или ИСО. которые от
носятся ко всем электрическим компонентам.
Правила процедуры IECQ установлены IEC QC 001002.
В приложении В приведено общее описание выборочных технических требований из подраз
дела 2.3 IEC Guide 102.
2