5
токов, наводимых этим преобразователем в детали и зависящих от электрофизических и геометрических параметров основного металла и покрытия.
Метод применяют для неэлектропроводных покрытий на неферромагнитных металлах и электропроводящих покрытий на неферромагнитных и ферромагнитных металлах.
При контроле толщины неэлектропроводных покрытий на деталях из неферромагнитных металлов метод применяют при условии, что значение шероховатости поверхности основного металла и покрытия Rа меньше толщины покрытия.
При контроле толщины электропроводных покрытий на деталях из неферромагнитных металлов метод наиболее эффективен при условии, что удельные электрические проводимости основного металла и покрытия отличаются не менее чем в 2-3 раза.
Относительная погрешность метода ±5 %.
3.8. Радиационные методы
3.8.1. Метод обратного рассеяния бета-излучения.
Метод основан на измерении интенсивности отраженного потока бета-частиц, которая определяется различием атомных номеров основного металла и покрытия и зависит от толщины покрытия.
Метод применяют для металлических и неметаллических покрытий на металлах при условии, что разность атомных номеров основного металла и материала покрытия не менее трех единиц. Относительная погрешность метода ±10 %.
3.8.2. Рентгенофлюоресцентный метод
Метод основан на анализе возбужденного с помощью радио-изотопного источника рентгеновского излучения, зависящего от основного металла, материала покрытия и его толщины.
Метод применяют для металлических и неметаллических покрытий на металлах.
При контроле металлических покрытий метод эффективен при толщине покрытия до 25 мкм. Относительная погрешность метода ±10 %.
3.9. Термоэлектрический метод
Метод основан на измерении термо-ЭДС, возникающей под действием тепла в детали, вызванной различием термоэлектрических свойств и теплопроводностей основного металла и покрытия и зависящей от толщины покрытия.
Метод применяют для металлических покрытий на металлах при толщине покрытия до 50 мкм и разности удельных термо-ЭДС не менее 20 мкВ/град. Относительная погрешность метода ±15 %.
3.10. Оптический метод
Метод основан на регистрации параметров оптического излучения, взаимодействующего с контролируемой деталью.
Метод применяют для покрытий с коэффициентом отражения не менее 0,3.
Толщину прозрачных или полупрозрачных анодно-окисных покрытий на алюминий и его сплавах измеряют по ГОСТ 9.031-74.
Относительная погрешность метода ±5 %.
3.11. Гравиметрический метод
3.11.1. Метод основан на определении массы покрытия взвешиванием деталей на аналитических весах до и после нанесения покрытия или до и после растворения покрытия или основного-металла.
Метод применяют для определения средней толщины однослойных покрытий с известной плотностью на деталях, массу которых можно определить взвешиванием на аналитических весах с классом точности не ниже 2,0.