ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-6—2015
WUPB(N)
~х
Х[[а..ЬЦ
Х[[п])
Х[п]
Напряжение постоянного тока. Измеренное на соединителе CON3 на эта
лонной PICC
(Введено дополнительно. Изм. А1:2012.)
Команда WUPB с N, как определено в ИСО/МЭК 14443-3:2011 (пункт 7.7.4)
Последовательность битов, состоящая из инвертированных битов после
довательности битов X или другой последовательности битов, отличной от
X
Подпоследовательность битов из последовательности битов X. состоящая
из битов между позициями а и b включительно. Если а > Ь. то последова
тельность пустая
Бит в позиции п из последовательности битов X. Первый бит — в позиции 1
Байт в позиции п из последовательности битов X. Первый байт — в пози
ции 1 (т. е. Х[п] = Х[[(п - 1) х 8 + 1..п х 8]])
Таблица
1— Преобразование из UID в UIDTX
Уровень каскада
Одинарный UID PICC
Двойной UID PICC
Тройной UID PICC
UID0UID1 UID2UID3
•88’ UID0 UID1 UID2
•88’ UID0 UID1 UID2
UIDTX,
иютх
2
—
UID3 UID4 UID5 UID6
•88’ UID3 UID4 UID5
UIDTX3
—
—
UID6 UID7UID8 UID9
4 Нормальные условия испытаний
4.1 Нормальные климатические условия
Испытания проводят при температуре окружающей среды (23
±
3) °С и относительной влажности
воздуха от 40 до 60 %. если не оговорены иные климатические условия.
4.2 Предварительное кондиционирование
В настоящем стандарте методы испытаний не требуют проведения предварительного кондицио
нирования PICC или PCD.
4.3 Допускаемые отклонения
Отклонения значений характеристик испытательного оборудования (например, линейных разме
ров) и параметров испытательных режимов (например, параметров настройки испытательного обору
дования) от указанных в стандарте значений не должны быть более
±
5 %, если не оговорены другие
допускаемые отклонения.
4.4 Паразитная индуктивность
Резисторы и конденсаторы должны иметь пренебрежимо малую индукцию.
4.5 Суммарная погрешность измерений
Суммарная погрешность измерений по каждой величине, определяемой при испытаниях, должна
быть указана в протоколе испытаний.
Основная информация дана в руководстве ИСО/МЭК 98-3:2008.
5