ГОСТ РИСО 17186—2016
4.3 Сетка или подобное калибровочное устройство, воспроизводящее отрезок длины
не менее 10 мкм и подходящее для использования в оптическом или растровом электронном микро
скопе.
4.4 Вакуумный пост для напыления подходящего элемента или сплава (например, золота) при
нанесении проводящего покрытия, если применяют растровый электронный микроскоп.
4.5 Подложкидля образцов, пригодныедля исследования в растровом электронном микроскопе.
5 Отбор проб и подготовка образцов
5.1 Отбор проб осуществляют по ИС02418 икондиционируют по ИСО 2419.
5.2 Вырезают три образца для испытаний размером приблизительно 10x10 мм. Если требуется
испытать более двух шкур или кож в одной партии, то следует отбирать только один образец от каждой
шкуры или кожи с учетом того, чтобы общее число образцов должно быть не менее трех. Делают срез
каждого изтрех образцов, какуказано в 5.3.
5.3 Помещают режущую кромку лезвия бритвы (4.2) с мездровой стороны. Лезвие должно быть
перпендикулярно к поверхности кожи. Продавливают лезвие сквозь всютолщину кожи, сохраняя верти
кальное положениелезвия. Рекомендуетсядля каждогосреза использовать новое лезвие бритвы.
При использовании растрового электронного микроскопа прикрепляют подготовленный срез к
подложкедля образца (4.5). располагая поверхность отрезанной части вверх. С помощью напылитель
ной установки (4.4)наносят проводящее покрытие на подложку исрез кожи, чтобы получитьдостаточно
качественное изображение.
6 Порядок проведения испытаний
6.1 Общие характеристики
6.1.1 Методы измерения
Настоящий стандарт представляет два основных метода измерения толщины поверхностного
покрытия.
МетодА основаннаизмерении рядавеличиннаэквидистантныхпозициях(см. рисунок 1). Этодает
возможность определять стандартное отклонение идоверительный интервал.
1 — кожа.
2
— покрытие, 3 — эквидистантное отдельное измерение
Рисунок 1 — Сущность метода А
Метод Воснован на измерении, использующем параллельныелинии(см. рисунок2). Статистичес
кая оценка результатовневозможнаиз-затого, чтооператордолженпозиционироватьлиниюсетки меж
ду пиками ивпадинами вручную. Этот процесс сразу предполагает усреднение результата.
Предпочтение следуетотдавать методуА.
Методы А и В могут быть использованы для оптических и растровых электронных микроскопов.
Рабочее расстояние и ускоряющее напряжение растрового электронного микроскопа должны быть
одинаковы при калибровке иизмерениях образцов.
2