ГОСТ Р 56551—2015
систем» и ИСО/ТК 229 «Нанотехнологии». Опубликованные стандарты на термины и определения будут включены
в настоящий стандарт в качестве ссылочных стандартов при последующем его переиздании.
3Стандарты на методы измерений, применяемые для определения характеристик углеродных нанотрубок,
разрабатывают в объединенной рабочей группе 2(ОРГ 2}МЭК/ТК 113 «Стандартизация нанотехнологий для элек
тротехнических и электронных изделий и систем» и ИСО/ТК 229 «Нанотехнологии». Опубликованные стандарты на
методы измерений, применяемые для определения характеристик углеродных нанотрубок, будут включены в
настоящий стандарт в качестве ссылочных стандартов при последующем его переиздании.
3 Термины, определения, обозначения и сокращения
В настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями:
3.1хиральность ОУНТ (chirality): Характеристика ОУНТ. представляющей собой свернутый в
цилиндрлист графена в направлении, заданном значениями л и т вектора хиральности С
Л
(см. рисунок
1
)
.
П р и м е ч а н и е — Хиральность ОУНТ влияет на ее электропроводность, плотность, структуру и другие
характеристики. В соответствии с таблицей 1 вектор хиральности С
Л
определяют по значениям целыхчисел п и
т и единичных базисных векторов а, иа2декартовой системы координат.
3.2 диаметр ОУНТ d, (diameterof single-walled carbon nanotubes d,):Длина отрезка прямой линии,
проходящейчерезгеометрическийцентрторца перпендикулярнопродольнойоси ОУНТисоединяющей
его противоположные стороны, значение которой зависитот значений целыхчисел л ит*.
3.3 В настоящем стандарте применены следующие обозначения и сокращения:
ACM (AFM)— атомно-силовая микроскопия;
ВЭЖХ (HPLC)— высокоэффективная жидкостная хроматография;
ГПХ (GPC)— гель-проникающая хроматография;
ИСП-МС (ICP-MS)— масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой;
метод БЭТ (ВЕТ) — метод Брунауэра. Эммета иТеллера, применяемый для определения
удельной площади поверхности материала, основанный на измерении
количестваадсорбированного газа [2];
МУНТ (MWCNT) — многостенная углеродная нанотрубка;
ОУНТ (SWCNT) — одностенная углеродная нанотрубка;
ПЭМ (ТЕМ)— просвечивающая электронная микроскопия;
РФЭМ (ХРМ)— рентгеновская фотоэлектронная микроскопия;
РФЭС (XPS)— рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия:
РЭМ(БЕМ)— растровая электронная микроскопия;
CBHK(NIR)— спектроскопия вближней инфракрасной области спектра;
СЗМ (SPM)— сканирующая зондовая микроскопия;
СЗТВМ (SGM)— сканирующая затворная микроскопия;
СЗТМ (SThPM)— сканирующая зондовая тепловая микроскопия;
СКРС (Raman)— спектроскопия комбинационного рассеяния света:
CTM(STM)— сканирующая туннельная микроскопия:
СТС (STS)— сканирующая туннельная спектроскопия;
TTA(TGA)— термогравиметрический анализ;
ТГ-МС (TG-MS) — термогравиметрия — масс-спектрометрия;
УНТ (CNT)— углеродная нанотрубка;
УФС (UV)— ультрафиолетовая спектроскопия;
УФС-Вид-БИК— спектроскопия в ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной
(UV-vis-NIR) областях спектра;
Ф
Л
С (PL)— флуоресцентная спектроскопия:
ФЭС (SPS)— фотоэлектрическая спектроскопия;
ХОГФ (CVD)— химическое осаждение из газовой фазы;
ЭДРС (EDX)— энергодисперсионная рентгенофлуоресцентная спектрометрия:
ЭСМ (EFM)— электростатическаясиловая микроскопия.
* Определение термина, изложенного в МЭЮ’ПАС 62565-2-1, дополнено для лучшего понимания текста на
стоящего стандарта.
2