8
А.1.2. На основании материалов, представленных на испытания, определяют СКО σ0 распределения погрешности градуировки эталона при выпуске из производства, предел ΔН допускаемой погрешности (нестабильности) эталона, нормируемый в ТУ, предел ΔЭ допускаемой погрешности (нестабильности) эталона в реальных условиях его эксплуатации [в соответствии с требованиями государственной (межгосударственной) поверочной схемы].
Устанавливают в соответствии с 3.2 настоящего стандарта значение вероятности метрологической исправности Р*М.И или доверительной вероятности Р.
А.1.3. Принимают допущение о симметричности распределения погрешности (нестабильности) эталона относительно нуля (“веерный” случайный процесс). При этом оценкой МПИ Т1 является
(А.2)
где λР - коэффициент нормального распределения, соответствующий вероятности Р;
Р - в соответствии с А.1.2 - либо Р*М.И, либо Р.
А.1.4. Принимают допущение о том, что случайный процесс изменения во времени погрешности эталона заключается в линейном изменении среднего значения погрешности (по совокупности эталонов данного типа) при неизменном СКО распределения погрешности σ (линейный случайный процесс). При этом оценкой МПИ Т2 является
(А.3)
А.1.5. Принимают МПИ Т=min[Т1, Т2].
Пример
Нормируют Рм(t)=0,95 за наработку t=1000 ч. Средняя загрузка эталона - 80 ч в месяц. σ0=0,2Δн, Δэ=0,8Δн. Определяют МПИ Т из условия, что Р*м.и (Т)=0,90.
При интенсивности эксплуатации эталона 80 ч в месяц наработка t=1000 ч соответствует календарной продолжительности эксплуатации, равной одному году. Квантили нормального распределения: λ0,95=2, λ0,90=1,645. Поэтому
(А.4)
(А.5)