ГОСТ Р ИСО 15745-1—2014
<xsd:element name®"Prof!leBody“>
<xsd:complexType>
<xsd:sequence>
<xsd:element name="DevlceProflleHandle" mlnOccurs=”1" maxOccurs="unbounded"
type=”ProflleHandle_DataType“ t>
<xsd:element name=”CommNetworkProlileHandle" mlnOccurs="0“
maxOccurs*"unbounded“ type=“ProflleHandIe_DataType“ t>
<xsd:element name=’’EqulpmentPro1lleHandle" mlnOccurs*“0” maxOccurs=“unbounded"
type=“Pro(lleHandle_DataType“ />
<xsd:element name»”HumanProflleHandle" mlnOccurs="0" maxOccurs=”unbounded"
type="ProtileHandle_DataType" t>
<xsd element name="MaterialProfileHandle" mlnOccurs=“0" maxOccurs=”unbounded"
type=“ProflleHandle_DataType” t>
</xsd:aequence>
</xsd:complexType>
</xsd:element>
Рисунок 11 — Раздел тела схемы XML общего шаблона профиля ресурсов
7.3.4.2 Профили приборов
7.3.4.2.1 Общие положения
Профилидлясуществующихприборовразрабатываютнаосновесоответствующихспецификаций
приборов.
Профили приборов, устанавливающие требования к интерфейсам между прибором и другими
ресурсами (включая другие приборы), могут быть получены с помощью интеграционной модели при
боров.
Разработчик AIP должен форматировать профиль приборов, устанавливающий требования к
интерфейсам с помощью того же шаблона XML, который применялся при форматировании профиля
приборов для существующих приборов: оценка этих двух профилей (оба в формате XML) позволяет
определитьсоответствие прибора требованиям, предъявляемым к интегрированию приборов.
Если приборсоответствуеттребованиямк интегрированию приборов, тоегоможно использоватьв
прикладной системе. В противном случае следует использоватьдругой прибор либодолжны быть вне
сены изменения в требования к интегрированию прибора (например, должна использоваться комбина
ция приборов), либо может быть разработан новый прибор, соответствующий требованиям, указанным
выше.
Структура общего профиля приборов изображена на рисунке 12. Технологические специальные
шаблоны профилей устройств, установленные в ИСО 15745-2—ИСО 15745-4, основаны на данной
структуреобщего профиля приборов имогут расширятьеедля согласования сунаследованными систе
мами.
Рисунок 12 — Диаграмма класса общего профиля приборов
18