ПРИЛОЖЕНИЕ Б
(справочное)
ГОСТ 8.581-2003
Оценка неисключенных систематических погрешностей компаратора 0, и 0У
Б.1 Нсисключснная систематическая погрешность компаратора учитывает две составляющие, обуслов
ленные: влиянием неравномерности активного стоя источников 0,., и влиянием деформации или различием в
толщине подложек сличаемых источников 0к2.
Б. 1.1 Нсисключснная систематическая погрешность, обусловленная влиянием неравномерности актив
ного стоя источников, «ошикает в тех компараторах, в которых чувствительность всего детектора в целом
различна для ритных участков активной поверхности источников. Значение 0и для источников с активной
поверхностью 100 и 160 см* определяют по формуле
= М Ч^ + Пп
, |1 -?/41
X I - V 3 , *
q
где По 11Пя — неравномерность активного слоя у эталонного и поверяемого источников, соответственно, по их
паспорту ( п £ 20 56),
%;
S
и
S0
— плошадь с максимальным отклонением активности радионуклидов и площадь активной поверх
ности всею источника соответственно. Отношение
s„/S0
принимают равным 0.06 и 0,1 для
источников с активной поверхностью 160 и 100 см* соответственно;
474 — относительное изменение эффективности регистрации частиц всею детектора для краевых участ
ков источников но отношению к среднему при заданных расстояниях между источником и
детектором.
Б. 1.2 Отношение 474 определяют перемещением источника альфа-излучения с активной поверхностью
10 см* вдвух взаимно перпендикулярных направлениях в пределах площади активной поверхности поверяемых
источников с измерением скорости счета импульсов
п1
от источника в каждой точке. Отношение 474 вычисля
ют по формуле
4 74
- V я,
где я —среднее значение скоростей счета импульсов но нсем точкам, имп с" ’.
В качестве 474 выбирают значение я,/ я с наибольшим отклонением от единицы.
Б. 1.3 Нсисключснную систематическую погрешность, обусловленную влиянием деформации подложки
или различия втолшинс подложки, определяютдля всех компараторов, за исключением проточных
2х
счетчиков
(т. е. без входного окна). Допускаемое отклонение принимают равным ± 0.5 мм.
Б. 1.4 Для определения погрсшносли в компаратор устанавливают альфа-источник с наибольшей по
размеру активной поверхностью и с активностью порядка 105— 104 Бк. Измеряют среднюю скорость счета
импульсов от источника л, (число зарегистрированных импульсов при измерениях должно быть нс менее 107).
Под источник или под его борта подкладывают пластики лолшипой 0.5—1 мм. Измеряют скорость счета
импульсов для смещенного положения источника л2.
Б. 1.5 Значение 8К, для допускаемого отклонения вдеформации подложки 0.5 мм определяют по формуле
е,,=
100
0.5 (я, - я,)
---- 7ПГ,
-----
,
где
Л
— смещение источника при втором измерении, мм.
Б.1.6 Нсисключснную систематическую погрешность компаратора 8,. рассчитывают но формуле
Б.2 Нсисключснную систематическую погрешность 0,., обусловленную нестабильностью показаний ком
паратора. определяют экспериментально при поверке компаратора и при сто эксплуатации в следующем
порядке.
Помещают в компаратор источник альфа-излучения, создающий скорость счета импульсов порядка
10^ имп-С- *. Время одного измерения устанавливают 1000 с. Измерения проводят в лечение всего рабочего дня
(8 ч), исключая период установления рабочего режима компаратора.
9