Приложение А
(обязательное)
ГОСТ Р ИСО 17497-2—2014
Проверка испытательного пространства
А.1 Критерии для испытательного пространства
В диапазоне частот измерений и пространстве, предназначенном для выполнения измерений,
измеренный уровень звукового давления от единственного громкоговорителя не должен отличаться
более чем на 1 дБ от уровня звукового давления, соответствующего закону обратных расстояний (как
для точечного источника).
В испытательном пространстве отношение «смгнал-шум»должно бытьне менее 40 дБ в преде
лах прямоугольного временного окна (см. 7.4.3).
А.2 Испытательное пространство
Для испытаний может быть использована безэховая камера, в которойкоэффициент отражения
стен по уровню звукового давления не превышает 0.05. что эквивалентно коэффициенту звукопогло
щения более 0.9975.
Для имитации пространства без отражений может быть использовано достаточно большое сво
бодное пространство, если для исключения нежелательных отражений до преобразования Фурье к
измеренной импульснойпереходной характеристикеприменить временную селекцию с помощью пря
моугольного окна или методы спектроскопиивременных задержек (TDS).
А. 3 Размещение микрофонов, источников звука и объекта испытаний
Микрофоны, громкоговорители и испытуемая поверхность могут быть размещены на звукоотра
жающей плоскости, чтобы измерения можно было провести в условиях полузаглушенной камеры или в
свободном полупространстве. Плоскость должна иметь коэффициент отражения по звуковому дав
лению не менее 0,99. Размеры звукоотражающей плоскости должны быть достаточно большими,
чтобы в пределах временного прямоугольного окна дифракционные помехи от ее границбыли ниже
полезного сигналане менее чем на 40 дБ.
Источники и микрофоны должны быть достаточно близко к звукоотражающей плоскости, чтобы
гарантировать отсутствие искажений от скользящих вдоль плоскости отражений на всех частотах
измерений.
П р и м е ч а н и е 1- Данное требование может быть заведомо выполнено, если элементы измеритель
ной системы расположены от звукоотражающей плоскости на расстоянии, не превышающем
А
/4. где
А
- длина
волны.
П р и м е ч а н и е 2 -Для измерений, выполняемых с изделиями в натуральную величину, следует учи
тывать возможные изменения в ходе измерений характеристик испытуемой поверхности и параметров измери
тельной системы. В связи с этим рекомендуется последовательно для каждой пары источник-микрофон изме
рить импульсные переходные характеристики /|( ,
h2
и
И.
одну за другой. Измерения характеристик Л| для всех
источников и микрофонов, затем аналогично для Л, и Л}, не рекомендуются.
П р и м е ч а н и е 3-Ширина временного окна влияет на разрешение в низкочастотном участке диапазо
на измерений.Однако, такое влияние происходит на частотах, которые значительно ниже частот, на которых
большинство поверхностей проявляет заметное рассеяние.
15