AJDocs
Указатель
И поиск
Новые формы (Учет|Налоги|КНД
ОКУД|КФД|КБК|СФР|Кадры)
Нотариусы
Москвы и РФ
Регионы
Города
ГОСТы
Новости
Статьи
Ещё
Практика по документам
Курс валют (ЦБ) криптовалют (Бинанс)
Крипта | блокчейн | теханализ
Банкротство физ лиц
Советы юристов
Пособия и пенсии
Справочник Судов
Справочник УФССП
Гороскоп
Игра Фишка для гениев
О проекте
Реклама
Поиск по документам
Поиск по ГОСТам
Яндекс поиск
Гугл поиск
Гороскоп
Игра для умников
Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Найти
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Найти
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть гороскоп на неделю
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями
Открыть игру, играйте в нерабочее время :)
ГОСТы постранично
—
ГОСТ Р ИСО/ТС 10303-1233-2014
— страница 20
ГОСТ Р ИСО/ТС 10303-1233-2014; Страница 20
или поделиться
Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы
ГОСТ Р ИСО/ТС 10303-1263-2014 Системы автоматизации производства и их интеграция. Представление данных об изделии и обмен этими данными. Часть 1263. Прикладной модуль. Обоснование (Настоящий стандарт определяет прикладной модуль «Обоснование». В область применения настоящего стандарта входят:. - предоставление одного или более обоснований для чего-либо;. - описание и обозначение того, что обосновывается и в каком контексте;. - описание связей между обоснованиями;. - связь обоснования с обеспечивающими данными, на которых основано обоснование. В область применения настоящего стандарта не входят:. - элементы данных, для которых предоставляется обоснование;. - обеспечивающие данные, на которых основывается обоснование;. - связь с обоснованием общих управляющих данных, таких как задание классификации, даты или времени и лица или организации)
ГОСТ Р 52250-2004 Материалы электронной техники. Резисты для литографических процессов. Общие технические условия Electronic engineering materials. Resists for lithography processes. General specifications (Настоящий стандарт распространяется на резисты литографических процессов производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем)
ГОСТ Р 56157-2014 Почва. Методики (методы) анализа состава и свойств проб почв. Общие требования к разработке (Настоящий стандарт распространяется на почвы и устанавливает общие требования к разработке и пересмотру методик (методов) качественного и количественного анализа состава и свойств проб почв)
Страница 20
Страница 1
Untitled document
ГОСТ
Р ИСО/ТС
10303-1233—2014
Рисунок С.2 -
Представление
ПЭМ
на уровне
объектов
в формате
EXPRESS-G
17