ГОСТ Р МЭК 60793-1-46—2014
4 Испытательное оборудование
В приложениях А и В приведены схематичные изображения и другие требования к испытатель
ному оборудованию, которые применяют отдельно для каждого метода.
5 Отбор и подготовка образцов
5.1 Длина образца
Минимальная длина образца должна быть такой, чтобы изменения коэффициента затухания ОВ
находились в соответствии с разрешающей способностью измерительного оборудования и нелиней
ные участки в начале и конце графика затухания не влияли на результаты измерений.
5.2 Торцевая поверхность образца
Подготавливают плоскую торцевую поверхность, перпендикулярную к оси волокна на входном и
выходном концах каждого образца.
5.3 Подготовка образца
Образец подготавливают в соответствии с методом испытания на механические свойства, испы
тания на воздействие внешних факторов или другого испытания.
5.4 Эталонный образец
В методах, в которых используется эталонный образец, должны применяться ОВ или кабели,
идентичные данному образцу, и они должны быть установлены между оптическим разветвителем и
детектором, как показано на рисунке А.1 (см. приложение А). Это может быть короткая длина волокна.
Состояние эталонного волокна должно оставаться неизменным во время всего испытания.
6 Проведение испытания
В приложениях А и В указан порядок проведения испытания для методов А и В соответственно.
7 Расчеты
Порядок проведения расчетов указан в соответствующих приложениях А и В.
8 Результаты
8.1 Информация, получаемая при каждом измерении
По каждому измерению представляют следующую информацию:
• дата и наименование измерения;
• обозначение образца;
• значение длины волны оптического источника Л;
• длина образца:
• условия окружающей среды и измерительное оборудование;
• изменения коэффициента оптического пропускания= 1.2,3
.....
представленные, жела
тельно. в виде графика зависимости от испытуемых параметров.
8.2 Информация, предоставляемая по требованию
По требованию представляют следующую информацию:
• используемый метод измерения — А или В;
• тип используемого оптического источника и ширину его спектра (ширина спектра по уровню
полумаксимума);
• используемый способ ввода излучения;
• описание оборудования:
• подробное описание методики вычислений;
• дата последней калибровки измерительного оборудования.
2