ГОСТ IEC 62384—2013
U — источник питания с частотой переменного тока 50 Гц (60 Гц);
G — генератор звуковых частот от 250 до 2000 Гц;
А — питающий генератор частоты 50 Гц (60 Гц);
нагрузка - ЭПРА, испытываемый вместе с модулем СИД;
Z. — импеданс со значением, достаточно высоким на частоте 50 Гц (60 Гц) и достаточно низким в диапазоне частот
от 250 до 2000 Гц (например, резистор 15 Ом и емкость 16 мкФ);
Z t— импеданс со значением, достаточно низким на частоте 50 Гц (60 Гц) и достаточно высоким в диапазоне частот
от 250 до 2000 Гц (например, индуктивность 20 мГи);
F—
фильтр частоты 50 Гц (60 Гц);
W — селективный вольтметр ипи анализатор
1
армокик
П р и м е ч а н и е
П р и м е ч а н и е
1
— Значение
200 кОм
дпя одной ветви электрического моста не является критичным.
2 — Импеданс Z «’’или Z, не используют, если соответствующий источник питания обладает ма
лым внутренним импедансом для токов другого источника.
Рисунок А.2 - Измерение импеданса на звуковых частотах
Приложение В
(справочное)
Руководство по определению ресурса и интенсивности отказов изделий
Для определения ресурса и интенсивности отказов различных электронных изделий должны быть полно
стью учтены рекомендации, приведенные в технической документации изготовителя, и нижеследующие данные;
a) максимальная температура поверхности (обозначение Л— (fpecypc) электронного изделия или макси
мальная температура детали, определяющей ресурс, измеренная при нормальных рабочих условиях и номи
нальном или максимальном, выбранном из диапазона номинальных значений, напряжении позволяет обеспе
чить ресурс 50000 ч.
П р и м е ч а н и е — В некоторых странах, например вЯпонии, ресурс составляет 40000 ч;
b
) интенсивность отказов при непрерывной работе электронного изделия при максимальной температуре t
[определение приведено в перечислении а]. Интенсивность отказов выражают как число изделий, вышедших из
строя за единицу времени.
По требованию изготовитель должен предоставить исчерпывающие данные относительно метода получения
информации, приведенной в перечислениях а) и Ь) (математический анализ, испытание на надежность и т. д.).
8