ГОСТ Р 53734.3.2-2013
6.3 Оценка образцов, не имеющих электрических выводов
Если образцом является материал или предмет, у которого нет электрических терминалов
(например, упаковка), возможно, будет необходимо приложить импульс на образец через электроды
или с помощью других подходящих средств.
7.Процедура испытаний
Процедура испытаний должна соответствовать условиям применения образцов.
П р и м е ч а н и е 1 - Применение импульсов по ММ для определения устойчивости полупроводниковых
устройств к ЭСР приведено в (1J.
Допускается прилагать любой уровень напряжения в качестве испытательного воздействия. Один импульс
обеих полярностей должен прилагаться ко всем выводам образцов или комбинаций электродов и уровней
напряжения.
П р и м е ч а н и е 2 - У некоторых типов образцов могут быть “окна отказов", в которых возникают отказы
не ео всем диапазоне приложенных стрессовых уровней напряжения (например, отсутствие отказа при 100 В и
отказ при 200 В. отсутствие отказа при 300 В и отказ при напряжении от 400 В). Рекомендуется не пропускать
стрессовые уровни напряжения, чтобы определить такие ’окна отказов".
Допускается использование различных образцов для каждой комбинации предельных значений
и (или) полярности. Допускается использовать одни и те же образцы для испытаний на более высоких
уровнях напряжения при условии, что все образцы успешно прошли испытания на более низких
уровнях.
Если различные образцы подвергаются испытаниям на несколькихуровнях и (или)
полярностях, то испытания считаются завершенными после испытания всех образцов.
8 Критерии отказа
Образец считается отказавшим, если он не соответствует применяемым параметрам
спецификации в результате ЭСР испытаний.
9 Классификация образцов по стойкости к ЭСР
При необходимости устанавливают классификацию образцов по устойчивости к ЭСР.
П р и м е ч а н и е - Напряжение ЭСР обычно является подходящей основой для классификации, но в
некоторых случаях могут быть использованы другие подходы. Зачастую достаточно сослаться на
выдерживаемое напряжение без необходимости дополнительной классификации.
В [1] приведена классификация стойкости к ЭСР по ММ для полупроводниковых приборов.
5