ГОСТ IEC 60825-2-2013
Т а б л и ц аD.5 - Определение частоты неисправностей
Вид
неисправности
Бет
A base
а
а
Эле-Компонент
мент
схемы
Про-Комментарий
из-
веде-
ние
LM1Неохлажда
емый
лазер
15000,05
05000,65
05000,30
Повышение на
выходе
Понижение на
выходе
Нет выхода
25,0 Возможно от
0движения
0оптоволокна
Неисправность
чипа
1 8 0,73
0 8 0,27
TR1 BFR 96
Mullard
< 500 мВт
NPN
Короткое
замыкание
Разомкнутая
цепь
5,84 Ток лазера
0ограничен
сопротивление
м R1
(возможно,
безопасен см.
ниже)
R1470м 2 %
0,25 Вт
1 0,2 0,05
0 0,2 0,84
0,5 0,2 0,11
0,01
0
0,01
R2ЗК9 2 %
0,25 Вт
1 0,2 0,05
0 0,2 0,84
0,5 0,2 0,11
0,01
0
0,01
Короткое
замыкание
Разомкнутая
цепь
Уход
параметра
Короткое
замыкание
Разомкнутая
цепь Уход
параметра
С10,47 мкФ 10 Короткое
%замыкание
50 ВРазомкнутая
цепь
Уход
параметра
10,30,490,15
00,30,29 0
0,5 0,30,220,03
Общая частота неисправностей = 31,06 FIT
В этом примере (при условии напряжения на шине электропитания 5
В), максимальный ток лазера, ограничен
R
1 до значения 35 мА.
Маловероятно, что результат для лазера на 1,5 мкм превысит предел
66