ГОСТ Р 8.843—2013
Эффективность полупроводниковых излучающих диодов определяется отношением аффектив
ной бактерицидной, эритемной силы излучения ксиле излучениясветодиодов в спектральныхдиапазо
нах УФ-А и УФ-В.
8.3.3Определение погрешности, обусловленнойотклонением коэффициенталинейностиотеди
ницы. Определение границдиапазона измерений силы излучения иэффективной силы излучения
Измерение коэффициенталинейностисредств измерений проводятдляопределения границдиа
пазона измерений силы излучения и эффективной силы излучения. Коэффициент линейности опреде
ляют поотклонению значениячувствительностисредств измеренийотпостоянногозначения в рабочем
диапазоне измеряемой величины. Измеряют значения силы излучения и эффективность силы излуче
ния полупроводниковых излучающихдиодов, соответствующие нижней границе диапазона измерений,
указанной в паспорте поверяемого средства измерений. Увеличивают ток излучателя вдвоеи регистри
руют показания поверяемого сродства измерений /2. Измерения проводят пять раз. Определяют сред
ние значения измеренных сигналов. CKO S0. суммарное СКО результатов измерений и рассчитывают
коэффициентлинейности поформуле
К = (/1 + /2)/2/,(8)
ипогрешностьповеряемогосредства измерений 03,вызванную нелинейностьючувствительности, рас
считывают поформуле
0з = 1ОО|К-1|.(9)
Измеренияповторяютдодостижения верхней границыдиапазона измерений, указанной в паспор
те поверяемого средства измерений.
9 Обработка результатов измерений
Обработку результатов измерений характеристик радиометров излучения и определение основ
ной относительной погрешности проводят в соответствии с ГОСТ8.736—2011.
9.1 Оценку относительного среднеквадратического отклонения S0результатов измерений для п
независимых измерений проводят по формуле (2).
9.2 Границу относительной неисключенной систематической погрешности определяют по фор
муле
4
(
10
)
©0 = 1.1 (Х © 2)1*.
У-1
где (-), — составляющие неисключенной систематической погрешности;
0, — погрешностьспектральной коррекции;
02— погрешность определения абсолютной чувствительности;
03 — погрешность, возникающая из-заотклонения коэффициента линейности отединицы.
9.3Предел допускаемой погрешности результатов измерений силы излучения иэффективности
полупроводниковых излучающихдиодов Дррассчитывают поформуле
ao= KS,o = K ( £ 0 2/3~so2)”2.(11)
у-1
где К— коэффициент, определяемый соотношением случайной и неисключенной систематической
погрешностей.
В случаеизлученияО0>8S0случайнойпогрешностьюпосравнениюс систематической пренебре
гают и принимают Дд = 0^.
Результаты измерений считаются положительными, если предел допускаемой погрешности
средств измерений силы излучения и эффективности полупроводниковых излучающих диодов не пре
вышает 10%.
8