ГОСТ Р 55703—2013
Окончание таблицы А. 2
нд
НеCdZnNeTiNaCs
703.2 667.8’
7372 671.7*
772.8 692.9’
1014.0* 703.2*
1188.7 717.4’
743.9
754.0
836.5*
*Длина волн наиболее интенсивных линий спектра.
Для градуировки по длинам волн используют спектральные лампы низкого давления, имеющие линейный
спектр излучения, например:
- ртутную лампу ДРС-50:
- ртутно-гелиевую пампу ДРГС-12;
- кадмиевую лампу ДКдС-20;
- цинковую лампу ДциС-20:
- таплиевую лампу ДтаС-15:
- натриевую лампу ДнаС-16 или неоновые лампы ТН-30 и ТН-30-3.
Спектральную лампу устанавливают в соответствии с А. 1.4.1. Для повышения точности измерения градуи
ровку проводят при узких щелях, не допуская степень сужения щелей до аберраций.
Для определения положения спектральных линий по шкале барабана длин волн, первоначальную градуи
ровку осуществляют визуально наблюдением основных линий в плоскости выходной щели через окуляр.
Точную градуировку по длинам волн проводят фотоэлектрическим методом, установку линий определяют
значением максимального фототока при прокручивании шкапы длин волн вблизи данной линии.
У спектральных приборов со шкалой, градуированной по длинам волн, точное соответствие между шкалой
и истинными значениями устанавливаемых длин волн проверяют и корректируют по нескольким длинам волн в
пределах измеряемого диапазона.
Для спектральных приборов с равномерной шкалой длин волн проводят детальную градуировку расчетом
градуировочной кривой л = f(h) по формуле Гартмана
Х-
л =С—
А
(А.З)
где А. В. С — градуировочные постоянные;
л— отсчетпо барабану для заданной длины волны:
X— длина волны.
Градуировочные постоянные рассчитывают по трем экспериментальным точкам: л,= f(kf), n2=f fi-2). п3=f(k-
по формулам
_ (Х
2
-Х
3
)(л
2
-п^Лз -(/.j -Х г )(пз -rfrjn,
(^
2
~^з
)(П2
“ V*)(*%” *%)
(Х
1
-д.
2
)(л,-С)(л
2
-С>
л
2
-л,
(А.5)
8
8
Д = 5ц-
л, - С
-*2
-
л
2
- С
ч -
л
3
-С
(А.
6
)
Необходимый для градуировки диапазон спектра разбивают на ряд перекрывающих другдруга участков, т. е.
если один из них определяют как X,. / Х
3
, то следующий должен охватывать Xj. Х3, Х
4
и т.д. Ширина расчетного
участка X,—X* не более
200
нм.
16