ГОСТ 8.195—2013
2.4.2Пределы допускаемых относительных погрешностейЛа рабочих средств измерений
СПЭЯ. СПСИ, СПЭО не должны превышать значений, указанных в таблице 2.
Таблица 2 - СПЭЯ. СПСИ. СПЭО
Длина волныSio вторичныхД, рабочих эталонов. 1-10‘
излучения, эталонов.
мкм1-1021-го разряда2-горазряда
Д. рабочщссредств измерения.
1-10^.поверяемых по
вторичным рабочим
эталонамэталонам
0.2 3.0
0.22 2.5
0.25 2.0
0.5 0.6
1.0 0.5
2.5 1.0
5.0 1.5
10.0 1.8
15.0 2.2
25.0 2,5
8.0 10.0 11.0 13,0
5.0 7.0 9.5 12.0
4.0 6.0 7.0 10.0
1.5 2.0 2.5 4.0
1.8 2.5 2.0 3.5
3.0 4.0 3.0 4.0
3.5 5.0 3.5 5.0
5.0 7.0 5.0 8.0
6.0 8.0 8.0 10.0
8.0 10,0 11.0 15.0
2.4.3 В качестве рабочих средств измерений СПСИ и СПЭО малых уровней используют излуча
тели (лампы накаливания, светоизлучающие диоды, радиолюмииесцентные излучатели, модели чер
ного тела) в диапазонах измерений от 1 Ю Сдо 1-10 ’ Вт/(ср м). от 1Ю б до М О Вт/м3, соответствен
но. приемники излучения в диапазонах измерений от 1 103 до МО3 Вт/(ср м), от 1Ю 3до 1-103Вт/м3,
соответственно, в диапазоне длин волн от 0.32 до 1.20 мкм.
2.4.4 Пределы допускаемых относительных погрешностей Дс рабочих средств измерений СПСИ
и СПЭО малых уровней составляют от 6 102 до 10 • 103.
2.4.5 В качестве рабочих средств измерений ЭО малых уровней используют приемники излуче
ния. излучатели (светоизмерительные лампы, светоизлучающие диоды, модели черного тела) в диа
пазоне измерений от 5 10’1; до 5-10’7Вт/м2в диапазоне длин волн от 0.35 до 1.1 мкм.
2.4.6 Пределы допускаемых относительных погрешностей Д0 рабочих средств измерений ЭО
малых уровней составляют от 6 • 102 до 16 102.
3 Часть 2. Средства измерения СИ и ЭО
3.1 Первичный эталон
3.1.1 ГПЭ-И - по 2.1.1 - 2.1.3 настоящего стандарта - применяют для передачи единиц силы
излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,2 до 25.0 мкм вторичным эта
лонам непосредственным сличением и сличением с помощью компаратора.
3.1.2 Среднее квадратическое отклонение метода передачи Sao непосредственным сличением
не должно превышать 0,1Ю ’2. Среднее квадратическое отклонение метода передачи Scio сличением
с помощью компаратора составляет от 0.2 Ю ’2 до 0.5’10’2.
3.2 Вторичные эталоны
3.2.1 В качестве вторичных эталонов единицы энергетической освещенности солнечным излу
чением используют комплексы, состоящие из неселективных приемников излучения (полостных или с
плоской приемной площадкой), системы слежения за Солнцем в диапазоне измерений от 400 до 1360
Вт/м’ в диапазоне длин волн от 0,3 до 10,0 мкм и системы регистрации.
3.2.2 Средние квадратические отклонения результатов сличений Sro вторичных эталонов еди
ницы энергетической освещенности солнечным излучением с первичным эталоном не должны пре
вышать 0.2 • 10 2.
3.2.3 В качестве вторичных эталонов единиц силы излучения и энергетической освещенности
используют комплексы, состоящие из неселективных приемников излучения (полостных или с пло
ской приемной площадкой), излучателей (групп светоизмерительных ламп, моделей черного тела) в
диапазонах измерений от 10 до 100 Вт/ср и от 10 до 2000 Вт/м2. соответственно, в диапазоне длин
волн от 0,2 до 25.0 мкм или на отдельных его участках и систем контроля и стабилизации температу ры
и регистрации.
3.2.4 Средние квадратические отклонения результатов сличений Sso вторичных эталонов еди
ниц силы излучения и энергетической освещенности с первичным эталоном не должны превышать
0,2 102.
3.2.5 В качестве вторичных эталонов единицы спектральной чувствительности приемников из
лучения используют комплексы, состоящие из приемников излучения в диапазонах измерений от 0.01
4