ГОСТРИСО 9342-2-2013
марную рефракцию контрольной линзы была не более 0,002 м*1на поверх
ность.
Примечание - В случае использования диапазона толщин по центру, отлично
го от диапазонов, приведенных в таблице 1 и используемых в настоящее время, допус
кается ограниченное изменение производственных допусков для толщины по центру
для обеспечения ожидаемого номинального значения рефракции с высоким уровнем
доверия, не выходящего за пределы допустимых отклонении, которые составляют
±
0,03 м 1и приведены в пункте 5.
А.8 Расширенная неопределенность
А.8.1 Общая информация
Анализ расширенных неопределенностей, связанных с измерениями
производственных допусков контрольных линз приведен в пунктах А.8.2 -
А.8.4.
А.8.2 Составляющие неопределенности
А.8.2.1 Стандартная неопределенность и(г\) радиуса кривизны пе
редней поверхности г\ равна квадратному корню из суммы квадратов
стандартной неопределенности диаметра пробной сферы или пробного
стеклаи стандартной неопределенности поверхности самой линзы
и(г\ь).
Если при сопоставлении поверхности линзы с поверхностью пробно
го стекла наблюдают одно интерференционное кольцо на диаметре, рав
ном 1мм, в таком случае стандартное отклонение по высоте и(Л) будет
равно половине интерференционного кольца. В свою очередь это вызывает
соответствующее отклонение радиуса кривизны поверхности м(гц>), кото
рое вычисляют по формуле
г = a2Hh +Л/2,
тогда стандартное отклонение находится по формуле
и(Пь) = [(1/2 —a2/2h2)2м2(Л)]1/2,
где а - половина гипотенузы, равная 5 мм.
8