ГОСТ 30804.4.3—2013
испытаний, полученных при различных отклонениях напряженности поля, преимущество имеют результа
ты испытаний, полученные при отклонениях от 0 до плюсб дБ.
В случае еслилицевая сторона ИТС. подвергаемая воздействию испытательногополя, имеет разме
ры более 1.5 х 1.5 м и метод полного облучения (см. 3.9) (предпочтительный метод облучения) не
может быть применен из-за отсутствия плоскости однородного поля достаточных размеров. ИТС облуча
ют в серии испытаний с применением метода частичногооблучения.
Для применения метода частичногооблучения:
- калибровку испытательного полядопускается проводить при различных положениях излучающей
антенны, стем чтобы обеспечитьпокрытие всей лицевой поверхности ИТС плоскостью однородного поля в
серии испытаний. Испытания ИТС в этом случае следует проводить припоследовательном расположе нии
антенны в каждом из этих положений;
- ИТС допускается перемещать при испытаниях так. чтобы каждая часть его лицевой поверхности
находилась в пределах плоскости однородного поля во время, как минимум, одного из испытаний.
П р и м е ч а н и е — При размещении антенны в каждом из выбранных положений должна быть проведена
полная калибровка испытательного поля.
Требования к плоскости однородного поля иприменимости методов полногооблучения, частичного
облучения и независимых окон приведены в таблице 2.
Т а б л и ц а2 — Требования к плоскости однородного поля и применимости методов полного облучения,
частичного облучения и независимых окон
Частот»
Трвбоаамия к размеряй и калибровке плоскости однородного поля
Л
ицевая сторона ИТС полностью покрыта
плоскостью однородного поля
(предпочтительный метод полною облучения)
Л
ицевая сторона ИТС не покрыта
полностью плоскостью однородного поля
(альтернативные методы частичного облучения
и независимых окон)
Менее 1 ГГц
Минимальные размеры плоскости одно
Размеры плоскости однородного поля оп
ределяются числом точек калибровочной сет
ки. отстоящих друг отдруга на 0.5 м (т. е. долж
и т.д.).
Для плоскости однородного поля разме
Применяют метод частичного облучения.
родного поля должны быть 0,5 X 0.5 м.Минимальные размеры плоскости одно
родного поля должны быть 1.5 х 1.5 м.
Размеры плоскости однородного поля оп
ределяются числом точек калибровочной сет
ны быть: 0.5 х 0.5 м: 0.5 х 1.0 м; 1.0 х 1.0 м ки. отстоящихдруготдруга на 0.5 м (т. е. долж
ны быть: 1.5 X 1.5 м: 1.5 х 2.0 м; 2.0 х 2.0 м
И Т.Д.).
рами более 0.5 х 0.5 м напряженность поля вНапряженность поля 75 % точек измере
75 % точек измерения должна находиться в ния должна находиться в установленныхпре
установленных пределах. Для плоскости од делах
нородного поля размерами 0.5 х 0,5 м на
пряженность поля во всех точках измерения
должна находиться в установленных преде
лах
Свыше 1 ГГцМинимальные размеры плоскости одно
родного поля должны быть 0.5 х 0.5 м.
Размеры плоскости однородного поля оп
ределяются числом точек калибровочной сет
ки. отстоящих друг от друга на 0.5 м (т. е. дол
жны быть: 0.5 X 0.5 м: 0.5 х 1.0 м; 1.0 X 1.0 м и
Т.Д.).
75 % точек измерения должна находиться в
установленных пределах. Для плоскости од
должна находиться в установленных преде
лах
Применяют методы частичного облучения
и независимых окон.
При применении метода частичного облу
чения:
- минимальные размеры плоскости одно
родного поля должны быть 1.5 х 1.5 м;
- размеры плоскости однородного поля оп
Для плоскости однородного поля разме ределяются числом точек калибровочной сет рами
более 0.5 X 0.5 м напряженность поля ки. отстоящихдруг отдруга на 0.5 м (т. е. долж
ны быть: 1.5 х 1.5 м; 1.5 х 2.0 м; 2.0 X 2.0 м
и Г.Д.).
нородного поля размерами 0.5 х 0,5 м на - напряженность поля 75 % точек измере
пряженность поля во всех точках измерения ния должна находиться в установленных пре
делах.
При применении метода независимых
окон размер окна должен быть 0.5 х 0.5 м
(см. приложение Н)
8